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 8–8 第8章： JTAG边界扫描测试在MAX V器件 IEEE标准。 1149.1 BST操作控制 该 TDO 引脚为三态以外的所有国家 SHIFT -IR 和 SHIFT -DR 状态。该 TDO 引脚处的第一个下降沿启动 TCK 进入任一移位状态后 和被三态时的第一个下降沿 TCK 后留下的任一移位状态。 当 SHIFT -IR 状态被激活， TDO 不再三态的，并且初始状态 指令寄存器中移出的下降沿 TCK 。 TDO 继续转移 出指令寄存器只要内容 SHIFT -IR 状态是活动的。该 TAP控制器保持在 SHIFT -IR 国家只要 TMS 仍然很低。 在 SHIFT -IR 状态，一个指令代码是通过在将数据输入 TDI 销上的上升沿 TCK 。 必须先将时钟的最后一个位 操作码 同时 的下一个状态， EXIT1_IR, 为激活; EXIT1_IR 由时钟逻辑高电平输入 on TMS 。 在后 EXIT1_IR 状态， TDO 变为三态试。 TDO 总是 三态的，除非在 SHIFT -IR 和 SHIFT -DR 状态。后的指令代码是 输入正确， TAP控制器进入执行测试的串行移位 在三种模式（ SAMPLE / PRELOAD一个数据， EXTEST ， or BYPASS ） 。 对于MAX V器件，有弱上拉电阻 TDI 和 TMS ， 和下拉 电阻 TCK 。 然而，在一个JTAG链中，可能有一些设备不 有内部上拉或下拉电阻。在这种情况下， Altera建议拉 该 TMS 引脚为高电平（通过外部10 - k电阻） ，和拉 TCK 低（通过 外部1 - k电阻器）中的BST或在系统编程（ ISP），以防止 从进入无意识状态， TAP控制器。拉起的 TDI 信号 外部的MAX V器件是可选的。 f 关于上拉和下拉电阻的详细信息，请参阅 SAMPLE / PRELOAD指令模式 采样/预 教学模式可以让您拍摄设备数据的快照 在不中断正常的设备操作。不过， 采样/预 指令 模式是最经常用于预加载的测试数据到更新之前注册 加载 EXTEST 指令。 在捕获阶段，之前的捕捉寄存器多路选择 有源器件的数据信号和时钟数据到捕捉寄存器。该 在多路复用器的更新寄存器的输出还可以选择有源器件的数据 防止功能中断的装置。 在移相，该边界扫描移位寄存器由时钟控制数据形成的 通过周围的外围设备捕捉寄存器，然后出来的 TDO 引脚。 新的测试数据可以同时被移入 TDI 和替换的内容 捕捉寄存器。在更新阶段，在捕获寄存器的数据传送 到更新registers.You然后可以使用此数据 EXTEST 教学模式。为 更多信息，请参阅 MAX V器件手册 2010年12月 Altera公司。
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