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2SA1790  2SA1809  UPD17P236M1GT  2SA1814  2SA1859A  2SA1861  2SA1873  UPD17P204-003  2SA1816  2SA1887  
5M80ZE64A5N MAX V器件手册 (MAX V Device Handbook)
.型号:   5M80ZE64A5N
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描述: MAX V器件手册
MAX V Device Handbook
文件大小 :   4016 K    
页数 : 166 页
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品牌   ALTERA [ ALTERA CORPORATION ]
购买 :   
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100%
8–10
第8章: JTAG边界扫描测试在MAX V器件
IEEE标准。 1149.1 BST操作控制
表明,该移入测试数据
TDI
不会出现在
TDO
直到被移出捕获寄存器的数据后。如果
TMS
是高举两个
连续
TCK
个时钟周期,TAP控制器前进到
UPDATE -DR
状态
更新阶段。
如果启用该设备输出使能功能,但
DEV_OE
脚不被肯定
在边界扫描测试时,输出使能的BSC的边界扫描寄存器
从该设备的过程中的芯捕获数据
采样/预加载。
这些值不
高阻抗,虽然I / O引脚为三态。
显示
采样/预
波形。
图8-9 。 SAMPLE / PRELOAD移位寄存器的数据波形
TCK
TMS
TDI
TDO
SHIFT -IR
TAP_STATE
EXIT1_IR
指令码
选择- DR_SCAN
数据
存储
in
UPDATE -IR
CAPTURE -DR
Boundary-
扫描
注册
is
从TDO的。
之后疆扫描
注册
数据已
出,数据
进入TDI会
从TDO的。
EXIT1_DR
UPDATE -DR
SHIFT -DR
EXTEST指令模式
利用
EXTEST
教学模式,并检查设备之间的外部引脚连接。
不像
采样/预
模式,
EXTEST
允许测试数据被压入销
信号。通过强制输出引脚上已知的逻辑高电平和低电平,则可以检测
在任何设备中的扫描链销开路和短路。
EXTEST
不同于选择数据
SAMPLE / PRELOAD 。 EXTEST
从数据选择
更新寄存器的输出和输出的源使能信号。后
EXTEST
指令代码被输入时,该多路开关选择的更新寄存器的数据;
因此,你可以强制从先前存储在这些寄存器中的数据
EXTEST
or
采样/预
测试周期上的引脚信号。这在捕获阶段,结果
测试数据被存储在所述捕获寄存器,然后移出
TDO
在换档过程中
阶段。您可以在更新过程中存储在寄存器更新新的测试数据
阶段。
MAX V器件手册
2010年12月
Altera公司。
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