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5M80ZT64A4N MAX V器件手册 (MAX V Device Handbook)
.型号:   5M80ZT64A4N
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描述: MAX V器件手册
MAX V Device Handbook
文件大小 :   4016 K    
页数 : 166 页
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品牌   ALTERA [ ALTERA CORPORATION ]
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8. JTAG边界扫描测试中的MAX V
器件
2010年12月
MV51008-1.0
MV51008-1.0
本章介绍了IEEE Std.1149.1 ( JTAG )边界扫描测试的Altera
®
最大
®
V设备。 IEEE标准。 1149.1 BST电路在MAX V器件提供
提供了一种经济有效的方式来测试包含的设备与系统
紧引线间距。电路板与Altera和其他符合IEEE标准。 1149.1兼容
设备可以使用
EXTEST , SAMPLE / PRELOAD ,
绕行
模式创建串行模式
在内部测试设备之间的引脚连接,并检查设备的运行。
由于印刷电路板变得更加复杂,进行彻底的测试要求也
越来越重要。在表面贴装封装和PCB进展
制造业已产生更小板,使得传统的测试方法(用于
例如,外部测试探针和“床上的钉子”测试夹具)更难实现。
其结果是,从印刷电路板空间减少成本节约成本有时偏移
增加了传统的测试方法。
在20世纪80年代, JTAG开发的规范边界扫描测试,这是后来
标准化为IEEE标准。 1149.1规范。该边界扫描测试(BST)
架构提供严密高效地测试PCB上元器件的能力
引线间距。
BST架构可以测试引脚连接,而无需使用物理测试探针和
捕捉而一个设备是否正常运行的功能数据。边界扫描单元
(基站控制器)的设备可以强制从引脚或核心逻辑信号到引脚或捕捉数据
信号。被迫测试数据被串行移入的BSC 。捕获的数据是串行
移出和外部相对于预期的效果。
示出的边界扫描测试的概念。
图8-1 。 IEEE标准。 1149.1边界扫描测试
边界扫描单元
串行
DATA IN
IC
引脚信号
串行
数据输出
CORE
逻辑
CORE
逻辑
互连
要测试
JTAG设备1
JTAG设备2
本章介绍了以下主题:
© 2010 Altera公司。版权所有。 ALTERA , ARRIA , CYCLONE ,硬拷贝,MAX的MegaCore , NIOS , QUARTUS以及STRATIX均。美国专利& Tm值。关。
在美国和其他国家和/或Altera公司的注册商标。所有其他商标和服务标记均为其各自所有者的财产在描述
它的半导体产品,以目前的规格与Altera标准质保Altera保证性能,但
保留随时更改任何产品和服务,恕不另行通知。 Altera不承担由此引起的损失的应用或使用不承担任何责任或法律责任
本文所述,除非与Altera明确书面同意,信息,产品或服务。 Altera公司建议客户获取设备的最新版本
之前依靠任何公开信息及订货对产品或服务之前,规范。
MAX V器件手册
2010年12月
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