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第8章： JTAG边界扫描测试在MAX V器件

IEEE标准。 1149.1 BST架构

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除了BST ，您可以使用IEEE标准。 1149.1控制器，用于在系统

编程MAX V器件。 MAX V器件支持IEEE 1532的编程，

它使用IEEE标准。 1149.1测试访问端口（TAP ）接口。然而，在本章

只介绍了IEEE标准的BST功能。 1149.1电路。

IEEE标准。 1149.1 BST架构

一个MAX V器件的IEEE标准操作。 1149.1 BST模式采用4引脚需要，

TDI ，

TDO ， TMS ，

和

TCK 。

列出了每个这些引脚的功能。 MAX V器件没有

TRST

引脚。

表8-1 。 IEEE标准。 1149.1引脚说明

针

TDI

描述

测试数据输入

功能

有关说明，串行输入引脚，以及测试和

编程数据。数据移入上的上升沿

TCK 。

串行数据输出引脚的说明以及测试和

编程数据。数据被移出的下降沿

TCK 。

销是三态的，如果数据没有被移位的出

装置。

输入引脚，提供控制信号，以确定

TAP控制器状态机的转换。转换

该状态机内发生的上升沿

TCK 。

因此，你必须设置

TMS

的上升沿之前

TCK 。 TMS

上的上升沿被评估

TCK 。

时钟输入到BST电路。一些操作发生在

的上升沿，而另一些在下降沿发生。

TDO

测试数据输出

TMS

测试模式选择

TCK

测试时钟输入

注释

（1）在

TDI

和

TMS

引脚都具有内部弱上拉resistors

（2）在

TCK

引脚具有内部弱下拉resistor

IEEE标准。 1149.1 BST电路需要以下寄存器：

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指令寄存器决定执行，哪些数据，操作

寄存器的访问。

旁路寄存器（这是一个1位长的数据寄存器）提供了一种

之间的长度最短的串行路径

TDI

和

TDO

销。

边界扫描寄存器，它是在所有的BSC构成的移位寄存器

装置。

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MAX V器件手册

2010年12月

Altera公司。