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CLK12P 的Stratix II器件手册,卷1 (Stratix II Device Handbook, Volume 1)
.型号:   CLK12P
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描述: 的Stratix II器件手册,卷1
Stratix II Device Handbook, Volume 1
文件大小 :   5210 K    
页数 : 768 页
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品牌   ALTERA [ ALTERA CORPORATION ]
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100%
文档修订历史记录
在Quartus II软件的设备&引脚选项对话框中使用
32位CRC电路,以确保数据的可靠性,是最好的选择之一
为减轻SEU 。
您可以实现错误检测CRC功能与现有的电路
在Stratix II器件,无需外部逻辑。于Stratix II
设备, CRC校验是通过在设备配置期间计算和
在正常检查对一个自动计算的CRC
操作。该
CRC_ERROR
引脚报告软错误时配置
SRAM数据被破坏,从而引发设备的重新配置。
定制电路
专用电路内置于Stratix II器件来执行错误
自动检测。这在Stratix II器件错误检测电路
不断检查在配置SRAM单元,而错误
设备处于用户模式。您可以监控一个外部引脚的错误,
用它来触发重新配置周期。您可以选择所需的时间
通过调整一个内置的时钟分频器检查之间。
软件界面
在Quartus II软件版本4.1及更高版本,可以打开
在设备&引脚选项自动错误检测CRC功能
对话框。此对话框允许您启用该功能并设置
400千赫之间的CRC至50 MHz的内部频率。这种控制
该CRC校验电路的内部配置SRAM的速度
位在FPGA器件。
有关CRC的更多信息,请参阅
AN 357 :错误检测使用CRC
在Altera的FPGA器件。
文件
修订历史
表3-7
显示修订历史这一章。
表3-7 。文档修订历史(第2第1部分)
日期和
文件
VERSION
已完成的更改
更改摘要
2007年5月, V4.2感动文档修订历史节结束
本章的。
更新了
“温度检测二极管( TSD ) ”
部分。
3–14
的Stratix II器件手册,卷1
Altera公司。
2007年5月
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