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季报可靠性报告
T0247 / T0220产品的制造
IRGB
IGBT / CoPack
ISSUE.3.
1997年10月
IGBT / CoPack
季报可靠性报告
分页: 35 1
目录
1
介绍
2
可靠性信息
3
环境试验结果
4
环境测试条件/原理图
5
器件封装和频率列表
IGBT / CoPack
季报可靠性报告
第35 2
介绍
可靠性报告是由于整理的试验数据的汇总
实施可靠性程序。这份报告将定期
通常更新每季。这份报告对未来出版物将
也包括适当的其他信息,以帮助用户在
解释提供的数据。该计划仅涵盖IGBT /
CoPack制造的产品在IRGB ,荷兰路, Oxted 。该
本报告所提供的可靠性数据的封装类型和TO247
TO220.
在红外数据手册提供有关可靠性数据的详细信息
IGBT - 3 ,页E- 65 -E - 72 。这也可从Oxted办公室。
可靠性工程_____________________________________
质量经理
日期
_____________________________________
_____________________________________
IGBT / CoPack
季报可靠性报告
第35 3
部分
2
可靠性信息
IGBT / CoPack
季报可靠性报告
第35 4
FIT率/等效器件小时
传统上,结果的可靠性已经在平均时间对故障方面介绍
或中位数,时间到失败。虽然这些结果有其价值,他们不
一定告诉他最需要知道的设计师。例如, Median-
时间到失败告诉工程师也需要多长时间半特定不少
设备出现故障。显然,没有设计师希望有一个内有50 %的失败率
合理的设备的使用寿命。的更大的兴趣,因此,是时候的故障
设备的比例要小得多说的1 %或0.1 % 。例如,在一个给定的
每百单位申请一次失败在五年内是可以接受的失败率
对于设备,设计者知道时间积累的一个1 %的失败
每单元组件,则组件的不超过0.1 %,可以在5失败
年。因此,在IGBT / CoPack可靠性或操作寿命的数据被呈现在
的时间上,将采取产生故障的规定数量下给出
操作条件。
以获得的故障率从一个例子的透视,让我们假设一个
电子系统包含1000半导体器件,并能耐受1%
每月的系统故障。该方程为设备故障是:
λ
=允许的比例系统故障
时间段
在该示例的情况下,
λ
=
0.01故障
720小时
X
1
设备号
X
10
9
=
FITS
X
1
1000设备
=
10
9
=
14 FITS
或14或适合每10 14失败
9
设备的时间。
IGBT / CoPack
季报可靠性报告
第35 5
相关元器件产品Datasheet PDF文档

IRG4PE40SD

Fit Rate / Equivalent Device Hours
暂无信息
30 IRF

IRG4PE40UD

Fit Rate / Equivalent Device Hours
暂无信息
27 IRF

IRG4PF40FD

Fit Rate / Equivalent Device Hours
暂无信息
27 IRF

IRG4PF40KD

Fit Rate / Equivalent Device Hours
暂无信息
20 IRF

IRG4PF40MD

Fit Rate / Equivalent Device Hours
暂无信息
33 IRF

IRG4PF40SD

Fit Rate / Equivalent Device Hours
暂无信息
12 IRF