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BUS-63106-460K  BUS-63106-440K  TSB83C196KD20  BUS-63106-400  BUS-63106-390S  BUS-63106-450W  TSB43LV81  TSC17  TSB87C196KD20  BUS-63106-450Z  
C330320C102J5R5CA 军事SPECIFCATIONS背 (MILITARY SPECIFCATIONS ON BACK)
.型号:   C330320C102J5R5CA
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描述: 军事SPECIFCATIONS背
MILITARY SPECIFCATIONS ON BACK
文件大小 :   542 K    
页数 : 40 页
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品牌   KEMET [ KEMET CORPORATION ]
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100%
陶瓷涂层保护/轴向径向&
性能特点
一般特定网络阳离子
工作电压:
轴向
RADIAL
C0G
50 & 100伏
100 & 200伏
X7R
50 & 100伏
50 , 100 & 200伏特
Z5U
50 & 100伏
50 & 100伏
温度特性:
C0G
0 ± 30 PPM / ° C来自 - 55 ° C至+ 125°C
(1)
X7R
± 15% - 55 ° C至+ 125°C
Z5U
+ 22 % ; - 56 %,从+ 10 ° C至+ 85°C
电容容差:
C0G
± 5%, ± 10%, ± 20%
X7R
± 10%, ± 20%
Z5U
± 20%, - 20 + 80%, - 0 + 100%
结构:
环氧树脂封装 - 符合阻燃测试要求一
标准UL 94V- 0的求。
高温焊锡 - 符合EIA RS - 198D ,
方法302 ,条件B (260 ℃,10秒)。
导线材料:
焊锡包覆铜包钢线
可焊性:
EIA RS - 198D ,方法302 ,焊锡温度 -
230℃ ± 5℃。停留时间在​​焊料 - 7 ± 1/2秒。
终端强度:
EIA RS - 198D ,方法303 ,条件A (2.2千克)
电气@ 25°C
电容:
在25℃以下,并规定的公差
测试条件。
C0G - 1000 pF的大1.0 VRMS在1 kHz 。
- 1000 pF和少用1.0 VRMS在1 MHz 。
X7R - 1.0 VRMS在1 kHz 。
Z5U - 0.5 VRMS在1 kHz 。
耗散因数:
在25 °C - 相同的测试条件为电容。
C0G - 0.15 %最大
X7R - 2.5 %最大
Z5U - 4.0 %最大
绝缘电阻:
EIA RS - 198D ,方法104 ,条件A
C0G - 100 gigohms或1000兆欧X μF ,
以较短者为准。
X7R -100 gigohms或1000兆欧X μF ,
以较短者为准。
Z5U -10 gigohms或1000兆欧X μF ,
以较短者为准。
绝缘耐电压:
额定电压EIA RS - 198D ,方法103 ( 250 %
5秒后,用电流限制至50mA )
环境的
振动:
EIA RS - 198D ,方法304 ,条件D ( 10-2000
赫兹; 20克)
冲击:
EIA RS - 198D ,方法305 ,条件I ( 100克)
基美
®
寿命测试:
EIA RS - 198D ,方法201 ,条件D.测试
潜力和温度。
在+ 125°C C0G- 200 %额定电压
X7R - 在+ 125°C 200 %额定电压
Z5U - + 85 ℃, 200 %额定电压
检测后限制在+ 25 ° C的:
电容量变化:
C0G - ± 3 % ,或0.25 pF的,以较高者为准。
X7R - ±初始值的20%。
(2)
Z5U - ±初始值的30%。
(2)
耗散因数:
C0G - 0.25 %最大
X7R - 3.0 %最大
Z5U - 4.0 %最大
绝缘电阻:
C0G - 10 gigohms或100兆欧X μF ,
以较短者为准。
X7R - 10 gigohms或100兆欧X μF ,
以较短者为准。
Z5U - 1千兆欧或100兆欧X μF ,
以较短者为准。
防潮性:
EIA RS - 198D ,方法204 ,条件A ( 10次
不施加电压。
检测后限制在+ 25 ° C的:
电容量变化:
C0G - 3 % ,或0.25 pF的,以较高者为准。
X7R - ±初始值的20%。
(2)
Z5U - ±初始值的30%。
(2)
耗散因数:
C0G - 0.25 %最大
X7R - 3.0 %最大
Z5U - 4.0 %最大
绝缘电阻:
C0G - 10 gigohms或100兆欧X μF ,
以较短者为准。
X7R - 10 gigohms或100兆欧X μF ,
以较短者为准。
Z5U - 1千兆欧或100兆欧X μF ,
以较短者为准。
热冲击:
EIA RS - 198D ,方法202 ,条件B ( C0G &
X7R : - 55 ° C至+ 125°C ; Z5U : - 55 ° C至+ 85°C )
(1)
(2)
53 PPM -30 PPM /°C,在+ 25 ° C至 - 55℃ ,± 60
PPM低于10 pF的。
X7R & Z5U电介质表现出老化等特点;
因此,强烈建议电容器
被deaged 2小时,在150 ℃,并稳定在
室温电容48小时前
测量时。
KEMET电子公司, P.O.盒5928 ,格林维尔,资深大律师29606 , ( 864 ) 963-6300
5
保形涂层
轴向/径向
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