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低电压检测器具有内置的
延迟电路
R3130N ××× A / C, R3131N ×××的A / C
应用手册
NO 。 EA- 073-0012
低电压检测器具有内置的
延迟电路
R3130N ××× A / C, R3131N ×××的A / C
概要
R3130N / R3131N系列是具有内置延迟电路,高检测电压精度低电压检测器IC
和超低电源电流通过CMOS工艺制造,它可以在低电压下工作。
这些IC可以用作系统复位发生器,并且每个这些IC包括一个参考电压源,一个COM
parator ,电阻器可用于设置电压检测器的阈值,一个输出驱动器晶体管,和一个输出端的延迟发生器。
检测电压在内部被固定,精度高,无需调整。当电源电压穿越
从高值到一个较低的值的设定检测器的阈值电压时,该集成电路产生复位信号。
R3130N系列输出“L” ,在检测模式下,而R3131N系列的输出为“H” 。
此外,每个R3130N / R3131N系列嵌入的输出延迟发生器,当电源电压穿越的设置
从低值到高值,在一个设定的延迟时间,其固定在所述集成电路检测器的阈值电压,这
IC保持在复位状态。
输出延迟时间可以选择。 (典型值240毫秒为标准。 )
.
两种输出类型, N沟道开漏型和CMOS型可供选择。
由于包这些IC的SOT23-3封装(微型模具)封装, IC的高密度安装在船上的
可能。
特点
引脚对引脚兼容MAX八百一分之八百零九( R3130N ×××× : MAX 809 , R3131N ×××× : MAX 810 )
超低电源电流............................................. ...........典型值1.25μA ( R313 × N27 ××: V
DD
=3.0V)
.
工作电压范围............................................... ......... 1.0V至6.0V ( TOPT = 25 ° C)
检测阈值................................................ ..................用0.1V在1.6V至4.8V的范围内设置的步骤
是可能的。
上电复位延时电路嵌入式电源....................延迟时间可指定。
请参考选型指南。
高精度检测电压......................................... ± 1.5 %
高精度输出的延迟时间......................................... ± 10.0 %
检测电压低温度漂移系数... TYP ± 100ppm的/°C的
.
两种输出类型............................................... ..................... N沟道开漏和CMOS
小包装................................................ ........................... SOT- 23-3
1
R3130N ××× A / C, R3131N ×××的A / C
应用
CPU &逻辑电路的复位
电池检查
窗口比较器
波形整形电路
电池备份电路
电源故障检测
方框图
R3130N×××
×××A
×××
N沟道开漏输出
V
DD
V
DD
R3130N×××
×××C
×××
CMOS输出
-
+
VREF
GND
延迟
电路
-
OUT
+
VREF
GND
延迟
电路
OUT
R3131N×××
×××A
×××
N沟道开漏输出
V
DD
R3131N×××
×××C
×××
CMOS输出
V
DD
-
+
VREF
GND
延迟
电路
-
OUT
+
VREF
GND
延迟
电路
OUT
2
R3130N ××× A / C, R3131N ×××的A / C
时序图
供应
电压
(V
DD
)
探测器
门槛
V
DET
最小工作
电压
V
SS
供应
电压
(V
DD
)
探测器
门槛
V
DET
最小工作
电压
V
SS
输出电压
V
SS
tDELAY时间
输出电压
V
SS
tDELAY时间
R3130N运行图
输出延迟操作
输出延迟时间,或者TDELAY规定如下:
1.在N沟道开漏输出的情况下:
R3131N运行图
从V上升沿的时间间隔
DD
脉冲( 1.0V → (V
DET
)+ 0.1V )的时间,这时,输出达到
的情况下为2.5V ,输出引脚(OUT)被上拉至5V通过一个470KΩ电阻。
2.在CMOS输出的情况下
从V上升沿的时间间隔
DD
脉冲( 1.0V → (V
DET
)+ 0.1V )的时间,这时,输出达到
V
DD
/2.
V
DET
+1.0V
输入电压
(V
DD
)
V
DET
+1.0V
输入电压
(V
DD
)
1.0V
GND
1.0V
GND
5.0V
V
DET
+0.1V
输出电压
输出电压
2.5V
(V
DET
+0.1V)/2
GND
TRST
tDELAY时间
GND
TRST
tDELAY时间
N沟道开漏输出
CMOS输出
3
R3130N ××× A / C, R3131N ×××的A / C
选购指南
检测器阈R3130N系列,输出类型,并且输出延迟时间可指定在用户的
要求通过指定的零件编号如下:
R3130N×××××-TR
R3131N×××××-TR
↑ ↑↑↑ ↑
一个BCD ê
CODE
设定检测电压(V
DET
)
a
以0.1V的1.6V至4.8V的范围内的步骤逐步设置是可能的。
以下6种电压也是标准。
2.63V 2.93V 3.08V 4.00V 4.40V 4.65V
,
,
,
,
,
选择输出延迟时间
b
E: 240毫秒(标准)A: 50ms的B: 100毫秒D: 200毫秒H: 400毫秒
* A,B, D,H版本只能6种标准电压的物品来制造。
指定输出类型
c
d
e
答: N沟道开漏
C: CMOS
6种标准电压项目最后一位数字的说明。
大坪方向的指定
(参考大坪规范)
目录
←部分
←部分
引脚配置
SOT-23-3
3
马克边
1
2
4
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    应用领域和描述

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    总32页 (272K) RICOH ELECTRONICS DEVICES DIVISION
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