型号等于：	SN74BCT8373 (1)
型号起始：	SN74BCT837* (26) SN74BCT8373* (13) SN74BCT8374* (13)
所属品牌：	不限 TI(23) ROCHESTER(3)
功能分类：	不限锁存器(11) 测试(21) 触发器(10) 总线驱动器(7) 总线收发器(7) 逻辑集成电路(10) 光电二极管(10) 信息通信管理(10) PC(1) 驱动(3) 输出元件(1)

SN74BCT837 - 型号起始 - TI; 总记录数：23

品牌	图片	型号	描述	用途标签	PDF	供应商
		SN74BCT8373 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	锁存器测试
		SN74BCT8373A 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	锁存器测试
		SN74BCT8373ADW 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器锁存器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理 PC
		SN74BCT8373ADWE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	锁存器测试
		SN74BCT8373ADWG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	BCT/FBT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24, PLASTIC, SO-24	驱动信息通信管理光电二极管输出元件逻辑集成电路
		SN74BCT8373ADWR EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器锁存器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8373ADWRE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	锁存器测试
		SN74BCT8373ADWRG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	扫描测试设备，带D型锁存器IC24-SOIC	测试锁存器
		SN74BCT8373ANT EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	锁存器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理驱动
		SN74BCT8373ANTE4 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器锁存器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8373DW EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
		SN74BCT8373DWR 中文翻译品牌: TI	Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-SOIC 0 to 70	锁存器测试
		SN74BCT8373NT 中文翻译品牌: TI	Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-PDIP 0 to 70	锁存器测试
		SN74BCT8374A 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器测试
		SN74BCT8374ADW 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器测试
		SN74BCT8374ADWE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理驱动
		SN74BCT8374ADWG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器触发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8374ADWR EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器测试
		SN74BCT8374ADWRE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器测试
		SN74BCT8374ADWRG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器触发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8374ANT EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器触发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8374ANTE4 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器触发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8374DWR 中文翻译品牌: TI	暂无描述	触发器测试

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