| 品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74ABT8996DW
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 JTAG TAP TRANSCEIVERS 10位可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 JTAG TAP收发器 |
微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 光电二极管 信息通信管理 双倍数据速率 | ||
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SN74ABT8996PW
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 JTAG TAP TRANSCEIVERS 10位可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 JTAG TAP收发器 |
微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 光电二极管 信息通信管理 双倍数据速率 | ||
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SN74ACT8994FN
中文翻译 品牌: TI |
DIGITAL BUS MONITOR IEEE STD 1149.1 JTAG SCAN-CONTROLLED LOGIC/SIGNATURE ANALYZER 数字总线监视器IEEE 1149.1 JTAG SCAN-控制的逻辑/特征分析器 |
微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 监视器 | ||
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SN74ACT8997DWR
中文翻译 品牌: TI |
SCAN-PATH LINKERS WITH 4-BIT IDENTIFICATION BUSES SCAN-CONTROLLED IEEE STD 1149.1 JTAG TAP CONCATENATORS 与4位的识别巴士扫描路径LINKERS扫描控IEEE标准1149.1 JTAG TA |
微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 光电二极管 | ||
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SN74ACT8999DW
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN-PATH SELECTORS WITH 8-BIT BIDIRECTIONAL DATA BUSES SCAN-CONTROLLED IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MULTIPLEXERS 具有8位双向数据总线扫描路径SELECTORS扫描控IEEE 1149 |
复用器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 光电二极管 | ||
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SN74ACT8999NT
中文翻译 品牌: TI |
SCAN-PATH SELECTORS WITH 8-BIT BIDIRECTIONAL DATA BUSES SCAN-CONTROLLED IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MULTIPLEXERS 具有8位双向数据总线扫描路径SELECTORS扫描控IEEE 1149 |
复用器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 光电二极管 | ||
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SN74AS877FN3
中文翻译 品牌: TI |
AS SERIES, 8-BIT REGISTERED TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PQCC28 | 控制器 微控制器 微控制器和处理器 输出元件 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 | |||
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SN74AS877JTP4
中文翻译 品牌: TI |
SN74AS877JTP4 | 控制器 微控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 | |||
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SN74AS877NTP1
中文翻译 品牌: TI |
IC,I/O CONTROLLER,AS-TTL,DIP,24PIN | 控制器 微控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 | |||
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SN74LS320N
中文翻译 品牌: TI |
CRYSTAL-CONTROLLED OSCILLATORS 晶体控制振荡器 |
振荡器 晶体 时钟发生器 微控制器和处理器 外围集成电路 光电二极管 | ||
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SN74LVT18512DGG
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件 |
总线收发器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT18512DGGR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件 |
总线收发器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT8980ADWR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTER WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试，总线控制器IEEE 1149.1 （ JTAG ） TAP 8位GENERIC主机接 |
总线控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT8980DW
中文翻译 品牌: TI |
EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 JTAG TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试，总线控制器IEEE 1149.1 JTAG TAP 8位GENERIC主机接口大师 |
总线控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT8980DWR
中文翻译 品牌: TI |
EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试，总线控制器IEEE 1149.1 （ JTAG ） TAP 8位GENERIC主机 |
总线控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT8986ZGV
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V LINKING ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP TRANSCEIVERS 3.3 -V LINKING可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 |
微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 信息通信管理 双倍数据速率 | ||
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SN74LVT8996DW
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V 10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 JTAG TAP TRANSCEIVERS 3.3 -V 10位可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 JTAG TA |
微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 光电二极管 信息通信管理 双倍数据速率 | ||
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SN74LVT8996DWR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V 10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 JTAG TAP TRANSCEIVERS 3.3 -V 10位可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 JTAG TA |
微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 光电二极管 信息通信管理 双倍数据速率 |
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