型号起始:SN74BCT8* (62) SN74BCT82* (31) SN74BCT83* (26) SN74BCT89* (5)
所属品牌:不限 TI(58) ROCHESTER(4)
功能分类:不限 测试(51) 总线驱动器(17) 总线收发器(23) 逻辑集成电路(25) 光电二极管(29) 信息通信管理(27) 锁存器(11) 触发器(10) 驱动(5) 输出元件(3) PC(1)
品牌 图片 型号 描述 用途标签 PDF 供应商
SN74BCT8245ANTE4
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS
八进制总线收发器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8373
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
八进制D类锁存器扫描测试设备
锁存器 测试
SN74BCT8373A
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
八进制D类锁存器扫描测试设备
锁存器 测试
SN74BCT8373ADW
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
八进制D类锁存器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 PC
SN74BCT8373ADWE4 EDA模型
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
八进制D类锁存器扫描测试设备
锁存器 测试
SN74BCT8373ADWG4 EDA模型
中文翻译 品牌: TI
BCT/FBT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24, PLASTIC, SO-24 驱动 信息通信管理 光电二极管 输出元件 逻辑集成电路
SN74BCT8373ADWR EDA模型
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
八进制D类锁存器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8373ADWRE4 EDA模型
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
八进制D类锁存器扫描测试设备
锁存器 测试
SN74BCT8373ADWRG4 EDA模型
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扫描测试设备,带D型锁存器IC24-SOIC 测试 锁存器
SN74BCT8373ANT EDA模型
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
八进制D类锁存器扫描测试设备
锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 驱动
SN74BCT8373ANTE4
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
八进制D类锁存器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8373DW EDA模型
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
SN74BCT8373DWR
中文翻译 品牌: TI
Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-SOIC 0 to 70 锁存器 测试
SN74BCT8373NT
中文翻译 品牌: TI
Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-PDIP 0 to 70 锁存器 测试
SN74BCT8374A
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
触发器 测试
SN74BCT8374ADW
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
触发器 测试
SN74BCT8374ADWE4 EDA模型
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 驱动
SN74BCT8374ADWG4 EDA模型
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8374ADWR EDA模型
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
触发器 测试
SN74BCT8374ADWRE4 EDA模型
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
触发器 测试
SN74BCT8374ADWRG4 EDA模型
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8374ANT EDA模型
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8374ANTE4
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8374DW
中文翻译 品牌: ROCHESTER
Boundary Scan Bus Driver, BCT/FBT Series, 1-Func, 8-Bit, True Output, BICMOS, PDSO24, DSO-24 信息通信管理 光电二极管
SN74BCT8374DWR
中文翻译 品牌: TI
暂无描述 触发器 测试
SN74BCT8374DWR
中文翻译 品牌: ROCHESTER
Boundary Scan Bus Driver, BCT/FBT Series, 1-Func, 8-Bit, True Output, BICMOS, PDSO24, DSO-24 驱动 信息通信管理 光电二极管 逻辑集成电路
SN74BCT8374NT
中文翻译 品牌: ROCHESTER
Boundary Scan Bus Driver, BCT/FBT Series, 1-Func, 8-Bit, True Output, BICMOS, PDIP24, DIP-24 信息通信管理 光电二极管
SN74BCT899
中文翻译 品牌: TI
9-BIT LATCHABLE TRANSCEIVER WITH PARITY GENERATOR/CHECKER
9位闭锁收发器奇偶校验发生器/校验器
SN74BCT899DW
中文翻译 品牌: ROCHESTER
BCT/FBT SERIES, 9-BIT REGISTERED TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PDSO28, PLASTIC, SOIC-28 信息通信管理 光电二极管 输出元件 逻辑集成电路
SN74BCT899DW EDA模型
中文翻译 品牌: TI
9-Bit Latchable Transceivers With Parity Generator/Checker 28-SOIC 0 to 70 信息通信管理 光电二极管 逻辑集成电路
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