型号起始：	SN74BCT8* (62) SN74BCT82* (31) SN74BCT83* (26) SN74BCT89* (5)
所属品牌：	不限 TI(58) ROCHESTER(4)
功能分类：	不限测试(51) 总线驱动器(17) 总线收发器(23) 逻辑集成电路(25) 光电二极管(29) 信息通信管理(27) 锁存器(11) 触发器(10) 驱动(5) 输出元件(3) PC(1)

SN74BCT8 - 型号起始 - 驱动; 总记录数：37

品牌	图片	型号	描述	用途标签	PDF	供应商
		SN74BCT8240ADW 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS 八进制反相缓冲器扫描测试设备	测试
		SN74BCT8240ADWG4 中文翻译品牌: TI	BCT/FBT SERIES, DUAL 4-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, INVERTED OUTPUT, PDSO24, GREEN, PLASTIC, SOIC-24	驱动信息通信管理光电二极管输出元件逻辑集成电路
		SN74BCT8240ADWR EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS 八进制反相缓冲器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8240ADWRE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS 八进制反相缓冲器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8240ANT EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS 八进制反相缓冲器扫描测试设备	测试
		SN74BCT8240ANTE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS 八进制反相缓冲器扫描测试设备	测试
		SN74BCT8244ADWG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8244ADWRE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备	测试
		SN74BCT8244ADWRG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8244ANT EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8244ANTE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8244DW 中文翻译品牌: TI	Scan Test Devices With Octal Buffers 24-SOIC 0 to 70	测试
		SN74BCT8245ADW EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS 八进制总线收发器扫描测试设备	总线收发器测试
		SN74BCT8245ADWE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS 八进制总线收发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8245ADWR 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS 八进制总线收发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8245ADWRE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS 八进制总线收发器扫描测试设备	总线收发器测试
		SN74BCT8245ADWRG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS 八进制总线收发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8245ANT EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS 八进制总线收发器扫描测试设备	总线收发器测试
		SN74BCT8245ANTE4 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS 八进制总线收发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8373ADW 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器锁存器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理 PC
		SN74BCT8373ADWG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	BCT/FBT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24, PLASTIC, SO-24	驱动信息通信管理光电二极管输出元件逻辑集成电路
		SN74BCT8373ADWR EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器锁存器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8373ANT EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	锁存器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理驱动
		SN74BCT8373ANTE4 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器锁存器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8373DWR 中文翻译品牌: TI	Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-SOIC 0 to 70	锁存器测试
		SN74BCT8373NT 中文翻译品牌: TI	Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-PDIP 0 to 70	锁存器测试
		SN74BCT8374ADW 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器测试
		SN74BCT8374ADWE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理驱动
		SN74BCT8374ADWG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器触发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8374ADWRE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器测试

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