| 型号起始： | SN74BCT83* (26) SN74BCT837* (26) |
| 所属品牌： | 不限 TI(23) ROCHESTER(3) |
| 功能分类： | 不限 锁存器(11) 测试(21) 触发器(10) 总线驱动器(7) 总线收发器(7) 逻辑集成电路(11) 光电二极管(13) 信息通信管理(13) PC(1) 驱动(4) 输出元件(1) |
| 品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74BCT8373ADW
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 PC | ||
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SN74BCT8373ADWR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8373ANTE4
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8374ADWG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8374ADWRG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8374ANT
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8374ANTE4
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 |
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