品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
![]() |
![]() |
SN74BCT8374ADWE4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 |
触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 驱动 | ||
![]() |
![]() |
SN74BCT8374ADWG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
![]() |
![]() |
SN74BCT8374ADWRG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
![]() |
![]() |
SN74BCT8374ANT
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
![]() |
![]() |
SN74BCT8374ANTE4
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
![]() |
SN74BCT8374DW
中文翻译 品牌: ROCHESTER |
Boundary Scan Bus Driver, BCT/FBT Series, 1-Func, 8-Bit, True Output, BICMOS, PDSO24, DSO-24 | 信息通信管理 光电二极管 | |||
![]() |
SN74BCT8374DWR
中文翻译 品牌: ROCHESTER |
Boundary Scan Bus Driver, BCT/FBT Series, 1-Func, 8-Bit, True Output, BICMOS, PDSO24, DSO-24 | 驱动 信息通信管理 光电二极管 逻辑集成电路 | |||
![]() |
SN74BCT8374NT
中文翻译 品牌: ROCHESTER |
Boundary Scan Bus Driver, BCT/FBT Series, 1-Func, 8-Bit, True Output, BICMOS, PDIP24, DIP-24 | 信息通信管理 光电二极管 |
Total:81
总8条记录,每页显示30条记录分1页显示。