型号等于:SN74BCT8374A (1)
型号起始:SN74BCT8374* (13) SN74BCT8374A* (9) SN74BCT8374D* (3) SN74BCT8374N* (1)
所属品牌:不限 TI(10) ROCHESTER(3)
功能分类:不限 触发器(10) 测试(10) 总线驱动器(4) 总线收发器(4) 逻辑集成电路(6) 光电二极管(8) 信息通信管理(8) 驱动(2)
品牌 图片 型号 描述 用途标签 PDF 供应商
SN74BCT8374ADW
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
触发器 测试
SN74BCT8374ADWE4 EDA模型
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 驱动
SN74BCT8374ADWG4 EDA模型
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8374ADWRE4 EDA模型
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
触发器 测试
SN74BCT8374ADWRG4 EDA模型
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8374ANT EDA模型
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8374ANTE4
中文翻译 品牌: TI
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理
SN74BCT8374DWR
中文翻译 品牌: ROCHESTER
Boundary Scan Bus Driver, BCT/FBT Series, 1-Func, 8-Bit, True Output, BICMOS, PDSO24, DSO-24 驱动 信息通信管理 光电二极管 逻辑集成电路
Total:81
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