型号等于：	SN74LV (2)
型号起始：	SN74LV* (1142) SN74LV0* (250) SN74LV1* (629) SN74LV2* (4) SN74LV7* (4) SN74LVC* (251) SN74LVT* (2)
所属品牌：	不限 TI(7076) ROCHESTER(108) UMW(53) FAIRCHILD(7) ADI(1)
功能分类：	不限驱动器(816) 输出元件(3714) 总线收发器(1670) 输入元件(1120) 总线驱动器(1179) 逻辑集成电路(3185) 光电二极管(2981) 触发器(2128) 栅极(759) 锁存器(478) 驱动(487) 信息通信管理(498) 解复用器(398) 移位寄存器(193) 解码器(188) 栅(285) 转换器(87) 电平转换器(87) 复用器(131) 计数器(107) 开关(151) 石英晶振(93) PC(258) 预分频器(34) 多谐振动器(34) 时钟(38) 复用器或开关(100) 信号电路(113) 测试(50) 电视(105) 录像机(26) 锁相环或频率合成电路(13) 双倍数据速率(17) 振荡器(33) 总线控制器(10) 线路驱动器或接收器(8) 驱动程序和接口(9) 接口集成电路(11) 陶瓷谐振器(10) 晶体振荡器(10) 微控制器和处理器(8) 外围集成电路(9) uCs集成电路(8) uPs集成电路(8) CD(3) 装置(1)

SN74LV - 型号起始 - 外围集成电路; 总记录数：14

品牌	图片	型号	描述	用途标签	PDF	供应商
		SN74LVT182512DGG 中文翻译品牌: TI	3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件	总线收发器测试
		SN74LVT18512DGG 中文翻译品牌: TI	3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件	总线收发器微控制器和处理器外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路测试光电二极管
		SN74LVT18512DGGR EDA模型中文翻译品牌: TI	3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件	总线收发器微控制器和处理器外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路测试光电二极管
		SN74LVT8980ADW EDA模型中文翻译品牌: TI	EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTER WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试，总线控制器IEEE 1149.1 （ JTAG ） TAP 8位GENERIC主机接	总线控制器测试
		SN74LVT8980ADWR EDA模型中文翻译品牌: TI	EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTER WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试，总线控制器IEEE 1149.1 （ JTAG ） TAP 8位GENERIC主机接	总线控制器微控制器和处理器外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路测试光电二极管
		SN74LVT8980ADWRG4 中文翻译品牌: TI	EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS	光电二极管外围集成电路
		SN74LVT8980AIDWREP EDA模型中文翻译品牌: TI	EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLER IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试总线控制器IEEE 1149.1 （ JTAG ） TAP大师和8位GENERIC主机	总线控制器测试
		SN74LVT8980DW 中文翻译品牌: TI	EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 JTAG TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试，总线控制器IEEE 1149.1 JTAG TAP 8位GENERIC主机接口大师	总线控制器微控制器和处理器外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路测试光电二极管
		SN74LVT8980DWR 中文翻译品牌: TI	EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试，总线控制器IEEE 1149.1 （ JTAG ） TAP 8位GENERIC主机	总线控制器微控制器和处理器外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路测试光电二极管
		SN74LVT8986ZGV 中文翻译品牌: TI	3.3-V LINKING ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP TRANSCEIVERS 3.3 -V LINKING可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1	微控制器和处理器外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路信息通信管理双倍数据速率
		SN74LVT8996DW EDA模型中文翻译品牌: TI	3.3-V 10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 JTAG TAP TRANSCEIVERS 3.3 -V 10位可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 JTAG TA	微控制器和处理器外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路光电二极管信息通信管理双倍数据速率
		SN74LVT8996DWR EDA模型中文翻译品牌: TI	3.3-V 10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 JTAG TAP TRANSCEIVERS 3.3 -V 10位可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 JTAG TA	微控制器和处理器外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路光电二极管信息通信管理双倍数据速率
		SN74LVT8996IPWREP EDA模型中文翻译品牌: TI	3.3-V 10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORT MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 (KTAG) TAP TRANSCEIVER 3.3 -V 10位可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 （ KTAG	双倍数据速率
		SN74LVT8996PWR EDA模型中文翻译品牌: TI	3.3-V 10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 JTAG TAP TRANSCEIVERS 3.3 -V 10位可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 JTAG TA	双倍数据速率

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