| 品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74LVT18512DGG
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件 |
总线收发器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT18512DGGR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件 |
总线收发器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT8980ADWR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTER WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试，总线控制器IEEE 1149.1 （ JTAG ） TAP 8位GENERIC主机接 |
总线控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT8980DW
中文翻译 品牌: TI |
EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 JTAG TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试，总线控制器IEEE 1149.1 JTAG TAP 8位GENERIC主机接口大师 |
总线控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT8980DWR
中文翻译 品牌: TI |
EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES 嵌入式测试，总线控制器IEEE 1149.1 （ JTAG ） TAP 8位GENERIC主机 |
总线控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT8986ZGV
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V LINKING ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP TRANSCEIVERS 3.3 -V LINKING可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 |
微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 信息通信管理 双倍数据速率 | ||
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SN74LVT8996DW
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V 10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 JTAG TAP TRANSCEIVERS 3.3 -V 10位可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 JTAG TA |
微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 光电二极管 信息通信管理 双倍数据速率 | ||
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SN74LVT8996DWR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V 10-BIT ADDRESSABLE SCAN PORTS MULTIDROP-ADDRESSABLE IEEE STD 1149.1 JTAG TAP TRANSCEIVERS 3.3 -V 10位可寻址扫描端口MULTIDROP寻址IEEE STD 1149.1 JTAG TA |
微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 光电二极管 信息通信管理 双倍数据速率 |
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