型号等于:SN74LVT (2)
型号起始:SN74LVT* (1002) SN74LVT1* (174) SN74LVT2* (126) SN74LVT3* (7) SN74LVT5* (42) SN74LVT6* (18) SN74LVT7* (3) SN74LVT8* (23) SN74LVTH* (607)
所属品牌:不限 TI(1147) ROCHESTER(13) FAIRCHILD(7)
功能分类:不限 驱动器(205) 输出元件(1025) 总线驱动器(350) 总线收发器(471) 逻辑集成电路(534) 光电二极管(497) 信息通信管理(498) 触发器(249) 驱动(111) 锁存器(91) 测试(50) 输入元件(42) PC(21) 双倍数据速率(12) 总线控制器(10) 电视(11) 微控制器和处理器(8) 外围集成电路(9) uCs集成电路(8) uPs集成电路(8) CD(3) 装置(1)
品牌 图片 型号 描述 用途标签 PDF 供应商
SN74LVT182502
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线收发器 测试
SN74LVT182502PM
中文翻译 品牌: TI
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线收发器 测试
SN74LVT182512
中文翻译 品牌: TI
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线收发器 测试
SN74LVT182512DGG
中文翻译 品牌: TI
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线收发器 测试
SN74LVT18502PM
中文翻译 品牌: TI
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线驱动器 总线收发器 逻辑集成电路 测试 输出元件 信息通信管理
SN74LVT18504
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICE WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试,20位通用总线收发器设备
总线收发器 测试
SN74LVT18504PMLE
中文翻译 品牌: TI
LVT SERIES, 20-BIT BOUNDARY SCAN REG TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PQFP64 总线收发器 测试
SN74LVT18512
中文翻译 品牌: TI
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线收发器 测试
SN74LVT18512DGG
中文翻译 品牌: TI
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线收发器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管
SN74LVT18512DGGR EDA模型
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线收发器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管
SN74LVT8980
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EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 JTAG TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES
嵌入式测试,总线控制器IEEE 1149.1 JTAG TAP 8位GENERIC主机接口大师
总线控制器 测试
SN74LVT8980A
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EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTER WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES
嵌入式测试,总线控制器IEEE 1149.1 ( JTAG ) TAP 8位GENERIC主机接
总线控制器 测试
SN74LVT8980A-EP
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EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLER IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES
嵌入式测试总线控制器IEEE 1149.1 ( JTAG ) TAP大师和8位GENERIC主机
总线控制器 测试
SN74LVT8980ADW EDA模型
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EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTER WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES
嵌入式测试,总线控制器IEEE 1149.1 ( JTAG ) TAP 8位GENERIC主机接
总线控制器 测试
SN74LVT8980ADWR EDA模型
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EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTER WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES
嵌入式测试,总线控制器IEEE 1149.1 ( JTAG ) TAP 8位GENERIC主机接
总线控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管
SN74LVT8980AIDWREP EDA模型
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EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLER IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES
嵌入式测试总线控制器IEEE 1149.1 ( JTAG ) TAP大师和8位GENERIC主机
总线控制器 测试
SN74LVT8980DW
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EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 JTAG TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES
嵌入式测试,总线控制器IEEE 1149.1 JTAG TAP 8位GENERIC主机接口大师
总线控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管
SN74LVT8980DWR
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EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES
嵌入式测试,总线控制器IEEE 1149.1 ( JTAG ) TAP 8位GENERIC主机
总线控制器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管
SN74LVT8980FK
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EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 JTAG TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES
嵌入式测试,总线控制器IEEE 1149.1 JTAG TAP 8位GENERIC主机接口大师
总线控制器 测试
SN74LVT8980JT
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暂无描述 总线控制器 测试
SN74LVTH182502A
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线收发器 测试
SN74LVTH182502APM EDA模型
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 信息通信管理
SN74LVTH182502APMR EDA模型
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线收发器 测试
SN74LVTH182504A
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试,20位通用总线收发器器件
总线收发器 测试
SN74LVTH182504APM EDA模型
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试,20位通用总线收发器器件
总线驱动器 总线收发器 逻辑集成电路 测试 信息通信管理
SN74LVTH182512
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线收发器 测试
SN74LVTH182512DGG
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 输出元件 信息通信管理
SN74LVTH182512DGGR EDA模型
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
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总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 输出元件
SN74LVTH182514
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试,20位通用总线收发器器件
总线收发器 测试
SN74LVTH182514DGG
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
3.3 -V ABT扫描测试,20位通用总线收发器器件
总线驱动器 总线收发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 输出元件
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