| 型号起始： | SN74LVT185* (7) SN74LVT1850* (4) SN74LVT1851* (3) |
| 所属品牌： | 不限 TI(7) |
| 功能分类： | 不限 总线收发器(6) 测试(6) 微控制器和处理器(2) 外围集成电路(2) uCs集成电路(2) uPs集成电路(2) 光电二极管(2) 总线驱动器(1) 逻辑集成电路(2) 输出元件(1) 信息通信管理(2) 输入元件(1) |
| 品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74LVT18502PM
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件 |
总线驱动器 总线收发器 逻辑集成电路 测试 输出元件 信息通信管理 | ||
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SN74LVT18504PM
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT Scan Test Devices With 20-Bit Universal Bus Transceivers 64-LQFP -40 to 85 | 输入元件 信息通信管理 逻辑集成电路 | ||
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SN74LVT18512DGG
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件 |
总线收发器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 | ||
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SN74LVT18512DGGR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位通用总线收发器器件 |
总线收发器 微控制器和处理器 外围集成电路 uCs集成电路 uPs集成电路 测试 光电二极管 |
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