HM5421-C [HMSEMI]

built-in high-precision voltage detection circuit;
HM5421-C
型号: HM5421-C
厂家: H&M Semiconductor    H&M Semiconductor
描述:

built-in high-precision voltage detection circuit

文件: 总7页 (文件大小:380K)
中文:  中文翻译
下载:  下载PDF数据表文档文件
HM5421B/C  
双节锂电池保护 IC  
一、 概述  
HM5421系列IC,内置高精度电压检测电路和延时电路,是用于2节串联锂离子/锂聚合物可再充电电池的保  
IC。  
此系列IC适合于对2节串联可再充电锂离子/锂聚合物电池的过充电、过放电和过电流进行保护。  
二、 特点  
HM5421全系列IC具备如下特点:  
1)高精度电压检测电路  
过充电检测电压VCUnn12)  
过充电释放电压VCRnn12)  
过放电检测电压VDLnn12)  
过放电释放电压VDRnn12)  
放电过流检测电压  
4.10V~4.50V  
3.90V~4.30V  
2.00V~3.00V  
2.30V~3.40V  
(可选择)  
精度 ±25mV  
精度 ±50mV  
精度 ±80mV  
精度 ±100mV  
充电过流检测电压  
(可选择)  
精度±30mV  
精度±0.4V  
负载短路检测电压  
1.0V (固定)  
2)各延迟时间由内部电路设置(不需外接电容)  
过充电检测延迟时间  
过放电检测延迟时间  
放电过流检测延迟时间  
充电过流检测延迟时间  
负载短路检测延迟时间  
典型值1000ms  
典型值110ms  
典型值10ms  
典型值7ms  
典型值250μs  
3)低耗电流  
工作模式  
休眠模式  
典型值5.0μA ,最大值9.0μAVDD=7.8V)  
最大值0.1μAVDD=4.0V)  
4)连接充电器的端子采用高耐压设计(CS端子和OC端子,绝对最大额定值是33V)  
5)向0V电池充电功能:可以选择允许禁止”  
6)宽工作温度范围:-40℃~+85℃  
7)小型封装:SOT-23-6  
8HM5421系列是无卤素绿色环保产品  
三、 产品应用  
2节串联锂离子可再充电电池组。  
2节串联锂聚合物可再充电电池组。  
四、 产品目录  
过 充 电 检 测 过充电释放 过放电检测 过 放 电 释 放电过流检 充电过流检 向 0V 电 池  
参数  
电压  
VCUn  
电压  
VCRn  
电压  
VDLn  
放电压  
测电压  
VDIP  
测电压  
VCIP  
充电功能  
V0CH  
型号  
VDRn  
HM5421-B 4.35±0.025V 4.15±0.05V 2.30±0.08V 3.00±0.1V 200±30mV -210±30mV  
HM5421-C 4.28±0.025V 4.08±0.05V 2.90±0.08V 3.00±0.1V 200±30mV -210±30mV  
允许  
允许  
1 页 共 7 页  
Shenzhen H&M Semiconductor Co.Ltd  
http//www.hmsemi.com  
HM5421B/C  
双节锂电池保护 IC  
五、 方框图  
振荡器  
计数器  
VDD  
VDD  
过充电检测器1  
过放电检测器1  
短路检测器  
放电过流检测器  
控制逻辑  
VC  
过充电检测器2  
过放电检测器2  
VSS  
充电过流检测器  
CS  
VSS  
VSS  
VSS  
六、 封装脚位及功能说明  
序号 符号  
说明  
封装外形图  
1
2
3
4
5
6
OD  
OC  
放电控制用MOSFET门极连接端子  
充电控制用MOSFET门极连接端子  
过电流检测输入端子,充电器检测端子  
电池1负极、电池2正极连接端子  
6
5
4
CS  
VC  
1
2
3
VDD  
VSS  
正电源输入端子,电池1正极连接端子  
接地端,负电源输入端子,电池2负极连接端子  
SOT-26  
2 页 共 7 页  
Shenzhen H&M Semiconductor Co.Ltd  
http//www.hmsemi.com  
HM5421B/C  
双节锂电池保护 IC  
七、 绝对最大额定值  
VSS=0VTa=25°C ,除非特别说明)  
项目  
符号  
VDD  
VOC  
VOD  
VCS  
TOP  
TST  
规格  
单位  
V
VDD VSS 之间输入电压  
OC 输出端子电压  
OD 输出端子电压  
CS 输入端子电压  
工作温度范围  
VSS-0.3~VSS+10  
VDD-33~VDD+0.3  
VSS-0.3~VDD+0.3  
VDD-33~VDD+0.3  
-40~+85  
V
V
V
mW  
储存温度范围  
-40~+125  
容许功耗  
PD  
250  
八、 电气特性  
VSS=0VTa=25°C ,除非特别说明)  
项目  
符号  
条件  
最小值  
典型值  
最大值  
输入电压  
VDD-VSS工作电压  
VDD-CS工作电压  
耗电流  
VDSOP1  
VDSOP2  
1.5  
1.5  
10  
33  
V
V
工作电流  
IDD  
IPD  
VDD=7.8V  
VDD=4.0V  
5.0  
9.0  
0.1  
uA  
uA  
休眠电流  
检测电压  
VCUn  
-0.025  
VCUn  
VCUn  
过充电检测电压n*1)  
VCUn  
4.14.5V,可调整  
V
+0.025  
过充电释放电压n*1)  
过放电检测电压n*1)  
过放电释放电压n*1)  
放电过流检测电压  
VCRn  
VDLn  
VDRn  
VDIP  
VSIP  
VCIP  
3.94.3V,可调整  
2.03.0V,可调整  
2.33.4V,可调整  
VCRn -0.05  
VDLn -0.08  
VDRn -0.10  
VDIP -30  
0.6  
VCRn  
VDLn  
VDRn  
VDIP  
1.0  
VCRn +0.05  
VDLn +0.08  
VDRn +0.10  
VDIP +30  
1.4  
V
V
V
mV  
V
负载短路检测电压  
VDD-VSS=7.0V  
充电过流检测电压  
VCIP -30  
VCIP  
VCIP +30  
mV  
延迟时间  
过充电检测延迟时间  
过放电检测延迟时间  
放电过流检测延迟时间  
充电过流检测延迟时间  
负载短路检测延迟时间  
控制端子输出电压  
TOC  
TOD  
TDIP  
TCIP  
TSIP  
700  
70  
6
1000  
110  
10  
1300  
150  
14  
ms  
ms  
ms  
ms  
μs  
4
7
10  
150  
250  
400  
OD端子输出高电压  
VDH  
VDD-0.1  
VDD-0.02  
V
3 页 共 7 页  
Shenzhen H&M Semiconductor Co.Ltd  
http//www.hmsemi.com  
HM5421B/C  
双节锂电池保护 IC  
OD端子输出低电压  
OC端子输出高电压  
OC端子输出低电压  
VDL  
VCH  
VCL  
0.2  
VDD-0.02  
0.2  
0.5  
V
V
V
VDD-0.1  
0.5  
0V电池充电的功能(允许或禁止)  
充电器起始电允许向0V V0CH  
电池充电功能)  
允许向0V电池充电功  
1.2  
-
-
-
-
V
V
电池电禁止向0V电池充  
V0IN  
禁止向0V电池充电功  
0.5  
电功能)  
4
5
九、 应用电路图  
PB+  
R1  
VDD  
330Ω  
C1  
0.1uF  
+
-
电池1  
R2  
VC  
330Ω  
C2  
0.1uF  
+
-
电池2  
CS  
VSS  
OD  
OC  
R3  
2KΩ  
M1  
M2  
PB-  
标记  
R1  
R2  
R3  
C1  
C2  
M1  
M2  
器件名称  
电阻  
用途  
最小值  
100Ω  
100Ω  
1 kΩ  
0.01μF  
0.01μF  
-
典型值  
330Ω  
330Ω  
2kΩ  
0.1μF  
0.1μF  
-
最大值  
470Ω  
470Ω  
4kΩ  
1.0μF  
1.0μF  
-
说明  
*1  
限流、稳定VDD、加强ESD  
限流、稳定VC、加强ESD  
限流  
电阻  
*1  
电阻  
*2  
电容  
滤波,稳定VDD  
滤波,稳定VDD  
放电控制  
*3  
电容  
*3  
N-MOSFET  
N-MOSFET  
*4  
充电控制  
-
-
-
*5  
*1R1R2连接过大电阻于芯片消耗的电流会在R1R2上产生压降响检测电压精度充电器反接时,  
电流从充电器流向IC,若R1R2过大有可能导致VDD-VSS端子间电压超过绝对最大额定值的情况发生。  
*2R3连接过大电阻,当连接高电压充电器时,有可能导致不能切断充电电流的情况发生为控制充电器反接  
时的电流,请尽可能选取较大的阻值。  
4 页 共 7 页  
Shenzhen H&M Semiconductor Co.Ltd  
http//www.hmsemi.com  
HM5421B/C  
双节锂电池保护 IC  
*3C1C2有稳定VDD电压的作用,请不要连接0.01μF以下的电容。  
*4、使用MOSFET的阈值电压在过放电检测电压以上时,可能导致在过放电保护之前停止放电。  
*5、门极和源极之间耐压在充电器电压以下时,N-MOSFET 有可能被损坏。  
十、 工作说明  
正常工作状态  
IC持续检测连接在VDDVC端子之间电池1的电压、连接在VCVSS端子之间电池2的电压,以及CS与  
VSS端子之间的电压差,来控制充电和放电。当电池1和电池2的电压都在过放电检测电压(VDLn)以上并在过充  
电检测电压(VCUn)以下,且CS端子电压在充电过流检测电压(VCIP)以上并在放电过流检测电压(VDIP)以下  
ICOCOD端子都输出高电平使充电控制用MOSFET和放电控制用MOSFET同时导通个状态称为正  
常工作状态。此状态下,充电和放电都可以自由进行。  
注意:初次连接电芯时,会有不能放电的可能性,此时,短接CS端子和VSS端子,或者连接充电器,就能  
恢复到正常工作状态。  
过充电状态  
正常工作状态下的电池充电过程中接在VDDVC端子之间电池1的电压或连接在VCVSS端子之  
间电池2的电压,超过过充电检测电压(VCUn,并且这种状态持续的时间超过过充电检测延迟时间(TOC)时,  
ICOC端子输出电压由高电平变为低电平,关闭充电控制用的MOSFETOC端子),停止充电,这个状态称  
过充电状态。  
过充电状态在如下两种情况下可以释放,OC端子输出电压由低电平变为高电平,使充电控制用MOSFET  
导通。  
1)断开充电器,由于自放电使电池1和电池2的电压都降低到过充电释放电压(VCRn)以下时,过充电状  
态释放,恢复到正常工作状态。  
2)断开充电器,连接负载,当电池1和电池2的电压都降低到过充电检测电压(VCUn)以下时,过充电状  
态释放,恢复到正常工作状态。  
注意:  
①进入过充电状态的电池果仍然连接着充电器使电池1和电池2的电压都低于过充电释放电VCRn,  
过充电状态也不能释放。断开充电器,CS端子电压上升到充电过流检测电压(VCIP)以上时,过充电状态才能释  
放。  
②当电池1或电池2的电压超过过充电检测电VCUn开充电器并连接负载果电池1或电池2的电压  
仍不能降低到过充电检测电压(VCUn)以下,此时放电电流通过充电控制用MOSFET的寄生二极管流过,当电池  
1和电池2的电压都降低到过充电检测电压(VCUn)以下时,OC端子输出电压由低电平变为高电平,使充电控制  
MOSFET导通。  
③当电池1或电池2的电压超过过充电检测电压(VCUn),但在过充电检测延迟时间(TOC)之内,电池1和电  
2的电压又降低到过充电检测电压(VCUn)以下,则此时不进入过充电保护状态。  
OC端子高电平是上拉到VDD端子,OC端子低电平是下拉到CS端子。  
过放电状态及休眠状态  
正常工作状态下的电池,在放电过程中,连接在VDDVC端子之间电池1的电压或连接在VCVSS端子之  
间电池2的电压低到过放电检测电VDLn且这种状态持续的时间超过过放电检测延迟时TOD)  
时,ICOD端子输出电压由高电平变为低电平,关闭放电控制用的MOSFETOD端子),停止放电,这个状态  
称为过放电状态。  
5 页 共 7 页  
Shenzhen H&M Semiconductor Co.Ltd  
http//www.hmsemi.com  
HM5421B/C  
双节锂电池保护 IC  
当关闭放电控制用MOSFET后,CSIC内部电阻上拉到VDD,使IC耗电流减小到休眠时的耗电流值  
<0.1uA),这个状态称为休眠状态。  
过放电状态在以下两种情况下可以释放,OD端子输出电压由低电平变为高电平,使放电控制用MOSFET导  
通。  
1接充电器CS端子电压低于充电过流检测电压(VCIP电池1和电池2的电压都高于过放电检测  
电压(VDLn)时,过放电状态释放,恢复到正常工作状态。  
2接充电器CS端子电压高于充电过流检测电压(VCIP电池1和电池2的电压都高于过放电释放  
电压(VDRn)时,过放电状态释放,恢复到正常工作状态。  
注意:  
①当电池1或电池2的电压低于过放电检测电压(VDLn),但在过放电检测延迟时间(TOD)之内,电池1和电  
2的电压又回升到过放电检测电压(VDLn)以上,则此时不进入过放电保护状态。  
OD端子高电平是上拉到VDD端子,OD端子低电平是下拉到VSS端子。  
放电过流状态(放电过流检测功能和负载短路检测功能)  
正常工作状态下的电池,IC通过检测CS端子电压持续侦测放电电流。一旦CS端子电压超过放电过流检测电  
(VDIP),并且这种状态持续的时间超过放电过流检测延迟时间(TDIP),则OD端子输出电压由高电平变为低电  
平,关闭放电控制用的MOSFETOD端子),停止放电,这个状态称为放电过流状态。  
而一旦CS端子电压超过负载短路检测电压(VSIP),并且这种状态持续的时间超过负载短路检测延迟时间  
TSIP),则OD端子输出电压也由高电平变为低电平,关闭放电控制用的MOSFETOD端子),停止放电,这  
个状态称为负载短路状态。  
连接在电池正极(PB+)和电池负极(PB-)之间的阻抗大于450kΩtyp.)时。放电过流状态和负载短路状  
态的将被释放。  
另外使连接在电池正PB+和电池负PB-间的阻抗小于450kΩtyp.时,当连接上充电器,  
CS端子电压降低到放电过流保护电VDIP会释放放电过流状态或负载短路状态到正常工作状态。  
充电过流状态  
正常工作状态下的电池,在充电过程中,如果CS端子电压低于充电过流检测电压(VCIP),并且这种状态持  
续的时间超过充电过流检测延迟时间(TCIP),则OC端子输出电压由高电平变为低电平,关闭充电控制用的  
MOSFETOC端子),停止充电,这个状态称为充电过流状态。  
进入充电过流检测状态后,如果断开充电器使CS端子电压高于充电过流检测电压(VCIP)时,充电过流状态  
被解除,恢复到正常工作状态。  
6 页 共 7 页  
Shenzhen H&M Semiconductor Co.Ltd  
http//www.hmsemi.com  
HM5421B/C  
双节锂电池保护 IC  
十一、  
封装信息  
7 页 共 7 页  
Shenzhen H&M Semiconductor Co.Ltd  
http//www.hmsemi.com  

相关型号:

HM5425161B

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA

HM5425161B/801B/401B

Series 256M SSTL-2 Interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125
ETC

HM5425161BTT-10

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA

HM5425161BTT-75A

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA

HM5425161BTT-75B

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA

HM5425401B

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA

HM5425401BTT-10

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA

HM5425401BTT-75A

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA

HM5425401BTT-75B

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA

HM5425801B

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA

HM5425801BTT-10

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA

HM5425801BTT-75A

256M SSTL_2 interface DDR SDRAM 143 MHz/133 MHz/125 MHz/100 MHz 4-Mword 】 16-bit 】 4-bank/8-Mword 】 8-bit 】 4-bank/ 16-Mword 】 4-bit 】 4-bank
ELPIDA