UCC21540QDWKRQ1 [TI]

具有 8V UVLO 和 3.3mm 通道间距的汽车类 5.7kVRMS、4A/6A 双通道隔离式栅极驱动器 | DWK | 14 | -40 to 125;
UCC21540QDWKRQ1
型号: UCC21540QDWKRQ1
厂家: TEXAS INSTRUMENTS    TEXAS INSTRUMENTS
描述:

具有 8V UVLO 和 3.3mm 通道间距的汽车类 5.7kVRMS、4A/6A 双通道隔离式栅极驱动器 | DWK | 14 | -40 to 125

栅极驱动 驱动器
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UCC21540-Q1  
ZHCSKZ7C JUNE 2020 REVISED FEBRUARY 2021  
UCC21540-Q1 3.3mm 通道间距选项的  
1 特性  
3 说明  
• 具有符AEC-Q100 标准的下列特性  
UCC21540-Q1 器件是具有可编程死区时间和宽温度范  
围的隔离式双通道栅极驱动器。该器件在极端温度条件  
下表现出一致的性能和稳定性。该器件采用 4A 峰值拉  
电流和 6A 峰值灌电流来驱动功率 MOSFETIGBT 和  
GaN 晶体管。  
– 器件温1 级  
– 器HBM ESD 分类等H2  
– 器CDM ESD 分类等C6  
功能安全质量管理型  
有助于进行功能安全系统设计的文档  
• 结温范40°C 150°C  
• 高18V VDD 输出驱动电源  
UCC21540-Q1 器件可以配置为两个低侧驱动器、两个  
高侧驱动器或一个半桥驱动器。输入侧通过一个  
5.7kVRMS 隔离层与两个输出驱动器相隔离其共模瞬  
态抗扰(CMTI) 的最小值100 V/ns。  
5V 8V VDD UVLO 选项  
CMTI 100 V/ns  
• 开关参数:  
40 ns 最大传播延迟  
5 ns 最大延迟匹配  
5.5 ns 最大脉宽失真  
35 µs VDD 上电延迟  
• 安全相关认证:  
保护功能包括可通过电阻器编程的死区时间通过禁  
用功能同时关闭两路输出集成的抗尖峰滤波器可抑制  
短于 5ns 的输入瞬变以及在输入和输出引脚上对高  
-2V 的尖峰进行 200 ns 的负电压处理。所有电源都  
UVLO 保护。  
器件信息(1)  
建议VDD  
– 符DIN V VDE V 0884-11:2017-01 标准的  
8000VPK 增强型隔离  
– 符UL 1577 标准且长1 分钟5700VRMS  
隔离  
IPK  
电源电压最  
小值)  
器件型号  
封装  
UCC21540QDWKQ1  
UCC21540AQDWKQ1  
4.0A/6.0A  
4.0A/6.0A  
9.2-V  
6.0-V  
SOIC (14)  
SOIC (14)  
– 符GB4943.1-2011 标准CQC 认证  
(1) 如需了解所有可用封装请参阅数据表末尾的可订购产品附  
录。  
2 应用  
HEV EV 电池充电器  
• 交流/直流和直流/直流电源中的隔离转换器  
• 电机驱动器和逆变器  
• 不间断电(UPS)  
VDD  
VCC  
RBOOT  
HV DC-Link  
VCC  
VDDA  
ROFF  
INA  
16  
PWM-A  
1
2
3
4
5
6
8
RIN  
RON  
OUTA  
VSSA  
CIN  
INB  
VCCI  
GND  
DIS  
15  
14  
PWM-B  
RGS  
CBOOT  
CIN  
C  
CVCC  
SW  
Functional  
Isolation  
VDD  
DIS  
VDDB  
I/O  
ROFF  
RON  
11  
10  
9
RDIS  
CDIS  
DT  
OUTB  
VSSB  
RGS  
VCCI  
CVDD  
RDT  
CDT  
2.2nF  
VSS  
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典型应用  
本文档旨在为方便起见提供有TI 产品中文版本的信息以确认产品的概要。有关适用的官方英文版本的最新信息请访问  
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English Data Sheet: SLUSDO2  
 
 
 
 
UCC21540-Q1  
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内容  
1 特性................................................................................... 1  
2 应用................................................................................... 1  
3 说明................................................................................... 1  
4 修订历史记录.....................................................................2  
5 器件比较表.........................................................................2  
6 引脚配置和功能................................................................. 3  
UCC21540-Q1 引脚功能...................................................3  
7 规格................................................................................... 4  
7.1 绝对最大额定值...........................................................4  
7.2 ESD 等级.................................................................... 4  
7.3 建议运行条件.............................................................. 4  
7.4 热性能信息..................................................................5  
7.5 额定功率......................................................................5  
7.6 绝缘规格......................................................................5  
7.7 安全相关认证.............................................................. 6  
7.8 安全限值......................................................................6  
7.9 电气特性......................................................................7  
7.10 开关特性....................................................................8  
7.11 绝缘特性曲线.............................................................9  
7.12 典型特性....................................................................9  
8 参数测量信息...................................................................14  
8.1 最小脉冲....................................................................14  
8.2 传播延迟和脉宽失真度..............................................14  
8.3 上升和下降时间.........................................................14  
8.4 输入和禁用响应时间..................................................15  
8.5 可编程死区时间.........................................................15  
8.6 UVLO 到输出延迟.............................................16  
8.7 CMTI 测试.................................................................17  
9 详细说明.......................................................................... 18  
9.1 概述...........................................................................18  
9.2 功能方框图................................................................18  
9.3 特性说明....................................................................19  
9.4 器件功能模式............................................................ 22  
10 应用和实现.....................................................................24  
10.1 应用信息..................................................................24  
10.2 典型应用..................................................................24  
11 电源相关建议................................................................. 33  
12 布局............................................................................... 34  
12.1 布局指南..................................................................34  
12.2 布局示例..................................................................35  
13 器件和文档支持............................................................. 37  
13.1 文档支持..................................................................37  
13.2 接收文档更新通知................................................... 37  
13.3 支持资源..................................................................37  
13.4 商标.........................................................................37  
13.5 静电放电警告.......................................................... 37  
13.6 术语表..................................................................... 37  
14 机械、封装和可订购信息...............................................37  
4 修订历史记录  
以前版本的页码可能与当前版本的页码不同  
Changes from Revision B (February 2021) to Revision C (February 2021)  
Page  
• 更新了“增强型隔离电容器寿命预测”图...........................................................................................................9  
Changes from Revision A (July 2020) to Revision B (February 2021)  
Page  
• 向特性列表添加了功能安全质量管理型...............................................................................................................1  
• 更改了“特性”、“应用”和“说明”部分....................................................................................................... 1  
• 添加UCC21540A-Q1 器件的初始发行版。.................................................................................................... 1  
• 添加UCC21540A-Q1 UVLO 阈值...................................................................................................................7  
• 添加UCC21540A-Q1 UVLO 阈值图............................................................................................................... 9  
Changes from Revision * (May 2020) to Revision A (July 2020)  
Page  
• 将销售状态从“预告信息”更改为“初始发行版”。.........................................................................................1  
5 器件比较表  
UVLO  
8.0-V  
5.0-V  
器件选项  
峰值电流  
封装  
UCC21540QDWKQ1  
SOIC-14  
4A 拉电流6A 灌电流  
4A 拉电流6A 灌电流  
UCC21540AQDWKQ1  
SOIC-14  
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6 引脚配置和功能  
UCC21540-Q1 引脚功能  
INA  
INB  
1
2
3
4
5
6
7
8
16  
15  
14  
VDDA  
OUTA  
VSSA  
VCCI  
GND  
DIS  
DT  
11  
10  
9
VDDB  
OUTB  
VSSB  
NC  
VCCI  
Not to scale  
6-1. DWK 14 SOIC 顶视图  
引脚  
I/O (1)  
说明  
名称  
编号  
设置为高电平时会同时禁用两个驱动器输出而设置为低电平时则会启用输出。为了实现更好的抗噪性  
如果不使用该引脚则建议将其接地。连接到远距离微控制器时可靠DIS 引脚放置约1nF 的  
ESR/ESL 电容器进行旁路。  
DIS  
5
I
I
DT 引脚配置:  
DT 连接VCCI 可禁DT 功能并允许输出重叠。  
DT GND 之间放置一个电阻(RDT) 可根据以下公式调整死区时间DT (ns) = 10 × RDT  
(kΩ)TI 建议靠DT 引脚放置一2.2 nF 或以上的陶瓷电容器来旁路此引脚从而实现更佳的抗  
噪性能。  
DT  
6
GND  
INA  
4
1
P
I
初级侧接地参考。初级侧的所有信号都以该接地为基准。  
A 通道的输入信号。INA 输入具有兼TTL/CMOS 的输入阈值。该引脚在保持开路时在内部被拉低。为  
了实现更好的抗噪性能如果不使用该引脚则建议将其接地。  
B 通道的输入信号。INB 输入具有兼TTL/CMOS 的输入阈值。该引脚在保持开路时在内部被拉低。为  
了实现更好的抗噪性能如果不使用该引脚则建议将其接地。  
INB  
NC  
2
I
7
-
无内部连接。此引脚可保持悬空、连接VCCI 或连接GND。  
12  
13  
15  
10  
3
NC  
-
SOIC-14 DWK 封装中移除了引12 和引13。  
OUTA  
OUTB  
VCCI  
O
O
P
驱动A 的输出。连接A FET IGBT 的栅极。  
驱动B 的输出。连接B FET IGBT 的栅极。  
初级侧电源电压。使用尽可能靠近器件的ESR/ESL 电容器在本地进行去耦连接GND。  
此引脚在内部短接至引3。  
最好选择旁路引3-4而不是引8-4。  
VCCI  
8
P
VDDA  
VDDB  
VSSA  
VSSB  
16  
11  
14  
9
P
P
P
P
驱动A 的次级侧电源。使用尽可能靠近器件的ESR/ESL 电容器在本地进行去耦连接VSSA。  
驱动B 的次级侧电源。使用尽可能靠近器件的ESR/ESL 电容器在本地进行去耦连接VSSB。  
次级侧驱动A 接地。次级A 通道的接地参考。  
次级侧驱动B 接地。次级B 通道的接地参考。  
(1) P = 电源I = 输入O = 输出  
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7 规格  
7.1 绝对最大额定值  
在自然通风条件下的工作温度范围内测得除非另有说明(1)  
最小值  
0.5  
0.5  
最大值  
单位  
6
V
VCCI GND  
输入偏置引脚电源电压  
驱动器偏置电源  
20  
V
V
VDDA-VSSAVDDB-VSSB  
VVDDA+0.5、  
VVDDB+0.5  
OUTA VSSAOUTB VSSB  
0.5  
输出信号电压  
VVDDA+0.5、  
VVDDB+0.5  
-2  
V
OUTA VSSAOUTB VSSB200 ns 瞬态  
VVCCI+0.5  
VVCCI+0.5  
1850  
V
V
INAINBDIS DT GND  
INA200 ns INB 瞬态GND  
DWK 封装|VSSA-VSSB|  
0.5  
输入信号电压  
-2  
V
通道间隔离电压  
(2)  
-40  
-65  
150  
°C  
°C  
结温TJ  
150  
贮存温度Tstg  
(1) 超出“绝对最大额定值”下列出的压力可能会对器件造成永久损坏。这些仅为压力额定值并不表明器件在这些额定值下或者任何其它  
超过建议工作条件所标明的条件下可正常工作时间处于绝对最大额定条件下可能会影响器件的可靠性。  
(2) 若要保TJ 的建议运行条件请参阅7.4。  
7.2 ESD 等级  
单位  
人体放电模(HBM)AEC Q100-002(1)  
充电器件模(CDM)AEC Q100-011  
±4000  
±1500  
V(ESD  
V
静电放电  
(1) AEC Q100-002 指示应当按ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 规范执HBM 应力测试。  
7.3 建议运行条件  
在自然通风条件下的工作温度范围内测得除非另有说明)  
最小值  
3
最大值  
单位  
VCCI  
5.5  
18  
VCCI 输入电源电压  
V
UCC21540-Q1  
9.2  
VDDA、  
VDDB  
驱动器输出偏置电源  
UCC21540A-Q1  
6.0  
18  
TJ  
150  
125  
°C  
°C  
40  
结温  
TA  
-40  
环境温度  
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7.4 热性能信息  
UCC21540-Q1  
热指标(1)  
单位  
DWK (SOIC)  
RθJA  
RθJC(top)  
RθJB  
ψJT  
69.7  
33.1  
29.0  
20.0  
28.3  
°C/W  
°C/W  
°C/W  
°C/W  
°C/W  
结至环境热阻  
结至外壳顶部热阻  
结至电路板热阻  
结至顶部特征参数  
结至电路板特征参数  
ψJB  
(1) 有关新旧热指标的更多信息请参阅《半导体IC 封装热指标应用报告SPRA953。  
7.5 额定功率  
单位  
mW  
mW  
mW  
PD  
915  
15  
功率耗散  
VCCI = 5.5VVDDA/B = 12VINA/B =  
3.3V2.7 MHz50% 占空比方波1.0 nF  
负载  
PDI  
发送器侧的功率耗散  
450  
PDAPDB 每个驱动器侧的功率耗散  
7.6 绝缘规格  
参数  
测试条件  
单位  
外部间隙(1)  
CLR  
CPG  
DTI  
> 8  
> 8  
>17  
> 600  
I
mm  
引脚间的最短空间距离  
外部爬电距离(1)  
绝缘穿透距离  
相对漏电起痕指数  
材料组别  
mm  
µm  
V
引脚间的最短封装表面距离  
双重绝缘的最小内部间隙内部间隙(2 × 8.5 µm)  
DIN EN 60112 (VDE 0303-11)IEC 60112  
IEC 60664-1  
CTI  
I-IV  
I-III  
额定市电电600 VRMS  
过压类别IEC  
60664-1)  
额定市电电1000VRMS  
DIN V VDE V 0884-11 (VDE V 0884-11): 2017-01(2)  
VIORM  
1414  
1000  
1414  
8000  
VPK  
VRMS  
VDC  
交流电压双极)  
最大重复峰值隔离电压  
交流电压正弦波);时间依赖型电介质击穿(TDDB) 测试  
请参阅7-1)  
VIOWM  
最大工作隔离电压  
直流电压  
VTEST = VIOTMt = 60s鉴定测试)  
VTEST = 1.2 × VIOTMt = 1s100% 生产测试)  
VIOTM  
VPK  
最大瞬态隔离电压  
采用符IEC 62368-1 的测试方法1.2/50 µs 波形,  
VTEST = 1.6 × VIOSM = 12800VPK鉴定测试)  
最大浪涌隔离电压(3)  
VIOSM  
8000  
<5  
VPK  
aI/O 安全测试子2/3 后。  
Vini = VIOTMtini = 60s;  
Vpd(m) = 1.2 X VIORM = 1697VPKtm = 10s  
a环境测试子1 后。  
Vini = VIOTMtini = 60s;  
Vpd(m) = 1.6 X VIORM = 2262VPKtm = 10s  
<5  
<5  
视在电荷(4)  
qpd  
pC  
b1常规测试100% 生产测试和预调节类型测试)  
Vini = 1.2 × VIOTMtini = 1s;  
Vpd(m) = 1.875 * VIORM = 2651VPKtm = 1s  
势垒电容输入至输出(5)  
隔离电阻输入至输出(5)  
VIO = 0.4 sin (2πft)f =1MHz  
VIO = 500V (TA = 25°C)  
CIO  
RIO  
1.2  
pF  
> 1012  
> 1011  
> 109  
VIO = 500V (100°C TA 125°C)  
VIO = 500VTS = 150°C  
Ω
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7.6 绝缘规(continued)  
参数  
测试条件  
2
单位  
污染等级  
40/125/21  
气候类别  
UL 1577  
VTEST = VISO = 5700VRMSt = 60s鉴定测试),  
VTEST = 1.2 × VISO = 6840VRMSt = 1s100% 生产测试)  
VISO  
5700  
VRMS  
可承受的隔离电压  
(1) 爬电距离和间隙应满足应用的特定设备隔离标准中的要求注意保持电路板设计的爬电距离和间隙从而确保印刷电路板上隔离器的  
安装焊盘不会导致此距离缩短。在特定的情况下印刷电路板上的爬电距离和间隙变得相等。在印刷电路板上插入坡口或肋或同时应用  
这两项技术可帮助提高这些规格。  
(2) 此耦合器仅适用于安全额定值范围内的安全电气绝缘。应借助合适的保护电路来确保符合安全额定值。  
(3) 在空气或油中执行测试以确定隔离栅的固有浪涌抗扰度。  
(4) 视在电荷是局部放(pd) 引起的电气放电。  
(5) 将隔离层每一侧的所有引脚都连在一起构成一个双引脚器件。  
7.7 安全相关认证  
VDE  
UL  
CQC  
DIN V VDE V 0884-11:2017-01 进行  
了认证  
UL 1577 组件认证计划下进行了认证  
GB 4943.1-2011 进行了认证  
增强型绝缘最大瞬态隔离电8000VPK  
增强型绝缘,  
5000m,  
热带气候  
最大重复峰值电1414VPK  
单一保护5700 VRMS  
文件编号E181974  
最大浪涌隔离电8000VPK  
证书编号40040142  
证书编号CQC19001226951  
7.8 安全限值  
安全限制旨在最大限度地减小在发生输入或输出电路故障时对隔离栅的潜在损害。  
参数  
测试条件  
最小值  
典型值  
最大值  
单位  
θJA = 69.7°C/WVVDDA/B = 12VTJ =  
150°CTA = 25°C  
请参7-2  
驱动A、驱动  
B  
IS  
73  
mA  
安全输出电源电流  
15  
880  
输入  
驱动A  
驱动B  
总计  
θJA = 69.7°C/WVVCCI = 5.5VTJ =  
150°CTA = 25°C  
请参7-3  
PS  
TS  
mW  
°C  
安全电源  
880  
1775  
150  
安全温度(1)  
(1) 最高安全温TS 具有与为器件指定的最大结TJ 相同的值。IS PS 参数分别表示安全电流和安全功率。不应超IS PS 的最大限  
值。这些限值会因环境温TA 而异。  
7.4 表中的结至空气热RθJA 所属器件安装在含引线的表面贴装封装对应的K 测试板上。可以使用以下公式计算每个参数的值:  
TJ = TA + RθJA × PP 是器件中耗散的功率。  
TJ(max) = TS = TA + RθJA × PS TJ(max) 是允许的最大结温。  
PS = IS × VI VI 是最大输入电压。  
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7.9 电气特性  
除非另有说明VVCCI = 3.3V 5.0VVCCI GND 0.1 µF 电容器VDDA/B VSSA/B 1 µF 电容器,  
VVDDA = VVDDB = 12VVDDA VDDB VSSA VSSB 1 µF 电容器DT 引脚连接VCCICL = 0pFTJ = –  
40°C +150°C(1) (2)  
参数  
测试条件  
最小值  
典型值  
最大值  
单位  
电源电流  
IVCCI  
VINA = 0VVINB = 0V  
1.5  
1.0  
2.0  
1.8  
mA  
mA  
VCCI 静态电流  
IVDDAIVDDB  
VINA = 0 V, VINB = 0 V  
VDDA VDDB 静态电流  
每通道电流f = 500 kHz50% 占  
空比)  
IVCCI  
2.5  
2.5  
mA  
mA  
VCCI 工作电流  
每通道电流f = 500 kHz50% 占  
空比),CL = 100 pF  
IVDDAIVDDB  
VDDA VDDB 工作电流  
VCC 电源电压欠压阈值  
VVCCI_ON  
VVCCI_OFF  
VVCCI_HYS  
2.55  
2.35  
2.7  
2.5  
0.2  
2.85  
2.65  
V
V
V
UVLO 上升阈值  
UVLO 下降阈值  
UVLO 阈值迟滞  
UCC21540A-Q1 VDD 电源电压欠压阈值  
VVDDA_ON  
VVDDB_ON  
5.0  
4.7  
5.5  
5.2  
0.3  
5.9  
5.6  
V
V
V
UVLO 上升阈值  
UVLO 下降阈值  
UVLO 阈值迟滞  
VVDDA_OFF  
VVDDB_OFF  
VVDDA_HYS  
VVDDB_HYS  
UCC21540-Q1 VDD 电源电压欠压阈值  
VVDDA_ON  
VVDDB_ON  
8
8.5  
8
9
V
V
V
UVLO 上升阈值  
UVLO 下降阈值  
UVLO 阈值迟滞  
VVDDA_OFF  
VVDDB_OFF  
7.5  
8.5  
VVDDA_HYS  
VVDDB_HYS  
0.5  
INAINB 和禁用  
V
VDISH  
INAHVINBH  
1.6  
0.8  
1.8  
1
2
V
V
输入高电平阈值电压  
输入低电平阈值电压  
V
VDISL  
INALVINBL  
1.25  
VINA_HYS  
VINB_HYS  
VDIS_HYS  
0.8  
V
输入阈值迟滞  
输出  
2
3
4
6
A
A
I
OA+IOB+  
峰值输出拉电流  
峰值输出灌电流  
CVDD = 10 µFCLOAD = 0.18 µFf  
= 1 kHz基准测量  
IOA-IOB-  
IOUT = 10 mAROHAROHB 并  
不表示驱动上拉性能。详细信息,  
5
10  
ROHAROHB  
高电平状态的输出电阻  
Ω
请参9.3.4 tRISE  
IOUT = 10 mA  
0.55  
1.1  
R
OLAROLB  
OHAVOHB  
OLAVOLB  
OAPDAVOAPDB  
低电平状态的输出电阻  
高电平状态的输出电压  
Ω
V
mA  
VDDAVVDDB = 12VIOUT = 10  
11.9  
11.95  
V
V
V
V
V
mA  
VDDAVVDDB = 12VIOUT = 10  
5.5  
11  
mV  
V
低电平状态的输出电压  
驱动器输出VOUTAVOUTB有  
源下拉  
V
VDDA VVDDB 未上电IOUTA、  
1.75  
2.1  
IOUTB = 200mA  
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除非另有说明VVCCI = 3.3V 5.0VVCCI GND 0.1 µF 电容器VDDA/B VSSA/B 1 µF 电容器,  
VVDDA = VVDDB = 12VVDDA VDDB VSSA VSSB 1 µF 电容器DT 引脚连接VCCICL = 0pFTJ = –  
40°C +150°C(1) (2)  
参数  
测试条件  
最小值  
典型值  
最大值  
单位  
死区时间和重叠编程  
-
DT 引脚连接VCCI  
RDT = 10 kΩ  
RDT = 20 kΩ  
RDT = 50 kΩ  
RDT = 10 kΩ  
RDT = 20 kΩ  
RDT = 50 kΩ  
INAINB 确定的重叠  
80  
100  
200  
500  
0
120  
240  
600  
10  
死区时(DT)  
160  
ns  
ns  
400  
-
-
-
0
20  
死区时间匹配|DTAB-DTBA  
|
0
65  
(1) 测试条件中的电流方向定义为进入该引脚的电流为正电流从指定端子流出的电流为负电流除非另有说明)  
(2) 仅具有典型值的参数仅供参考不构TI 已发布器件规格的一部分用TI 产品保修。  
7.10 开关特性  
除非另有说明VVCCI = 3.3V 5.5VVCCI GND 0.1 µF 电容器VVDDA = VVDDB = 12VVDDA VDDB  
VSSA VSSB 1 µF 电容器负载电COUT = 0pFTJ = 40°C +150°C(1)  
.
参数  
测试条件  
最小值  
典型值  
最大值  
单位  
CVDD = 10 µF, COUT = 1.8 nF,  
VVDDA, VVDDB = 12 V, f = 1 kHz  
5
16  
ns  
输出上升时间请参阅8-4  
tRISE  
CVDD = 10 µF, COUT = 1.8 nF ,  
VVDDA, VVDDB = 12 V, f = 1 kHz  
6
12  
20  
ns  
ns  
输出下降时间请参阅8-4  
tFALL  
tPWmin  
10  
传递到输出的最小输入脉宽,  
请参阅8-1 8-2  
如果输入信号小tPWmin输出不会  
改变状态  
tPDHL  
tPDLH  
28  
28  
40  
40  
ns  
ns  
ns  
下降沿传播延迟请参阅8-3  
上升沿传播延迟请参阅8-3  
INx 高阈VINH 到输出10%  
INx 低阈VINL 到输出90%  
5.5  
|tPDLHA tPDHLA||tPDLHBtPDHLB  
请参阅8-3  
|
tPWD  
脉宽失真度  
5
59  
35  
ns  
传播延迟匹配,  
|tPDLHA tPDLHB||tPDHLA  
tPDHLB|请参阅8-3  
tDM  
f = 250kHz  
tVCCI+ to  
40  
23  
VCCI 上电延迟时间UVLO 上升到  
OUTAOUTB,  
请参阅8-7  
OUT  
INA INB 连接VCCI  
µs  
tVDD+ to OUT  
VDDAVDDB 上电延迟时间:  
UVLO 上升OUTAOUTB  
请参阅8-8  
INA INB 连接VCCI  
GND VSSA/B 的压摆率INA 和  
INB 都连接VCCIVCM=1000V;  
高电平共模瞬态抗扰度请参阅节  
8.7)  
|CMH|  
|CML|  
100  
100  
V/ns  
GND VSSA/B 的压摆率INA 和  
INB 都连接GNDVCM=1000V;  
低电平共模瞬态抗扰度请参阅节  
8.7)  
(1) 仅具有典型值的参数仅供参考不构TI 已发布器件规格的一部分用TI 产品保修。  
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7.11 绝缘特性曲线  
7-1. 增强型隔离电容器寿命预测  
100  
80  
60  
40  
20  
0
2000  
IVDDA/B for VDD=12V  
IVDDA/B for VDD=18V  
1600  
1200  
800  
400  
0
0
50  
100  
Ambient Temperature (°C)  
150  
200  
0
50  
100  
Ambient Temperature (°C)  
150  
200  
UDC0C021  
UDC0C021  
7-3. 限制功率的热降额曲线VDE)  
两个通道同时运行时每个通道内的电流  
7-2. 限制电流的热降额曲线VDE)  
7.12 典型特性  
除非另有说明否则 VDDA = VDDB = 12VVCCI = 3.3V 5.0VDT 引脚连接到 VCCITA = 25°CCL =  
0pF。  
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1.5  
1.45  
1.4  
2.7  
2.65  
2.6  
VCCI = 3.3V  
VCCI = 5.0V  
1.35  
1.3  
2.55  
2.5  
VCCI = 3.3V, fS=50kHz  
VCCI = 3.3V, fS=1.0MHz  
VCCI = 5.0V, fS=50kHz  
VCCI = 5.0V, fS=1.0MHz  
1.25  
2.45  
1.2  
2.4  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
Temperature (èC)  
Junction Temperature (èC)  
D004  
D005  
INA = INB = GND  
空载  
7-5. VCCI 工作电- IVCCI  
7-4. VCCI 静态电流  
2.6  
2.58  
2.56  
2.54  
2.52  
2.5  
1.6  
1.4  
1.2  
1
VCCI = 3.3V  
VCCI = 5.0V  
VDD = 12V  
VDD = 18V  
0.8  
-40 -20  
0
100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000  
Frequency (kHz)  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
Junction Temperature (èC)  
D006  
D007  
7-6. VCCI 工作电流与频率间的关系  
INA = INB = GND  
空载  
7-7. 每通VDD 静态电流IVDDAIVDDB  
3
2.7  
2.4  
2.1  
1.8  
1.5  
1.2  
0.9  
3
2.8  
2.6  
2.4  
2.2  
2
VDD = 12V, fS=50kHz  
VDD = 12V, fS=1.0MHz  
VDD = 15V, fS=50kHz  
VDD = 15V, fS=1.0MHz  
1.8  
1.6  
1.4  
VDD = 12V  
VDD = 15V  
1.2  
1
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
0
100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000  
Frequency (kHz)  
Junction Temperature (èC)  
D008  
D009  
空载  
INA INB 都开关  
空载  
7-8. 每通VDD 工作电- IVDDA/B  
7-9. 每通道工作电(IVDDA/B) 与频率间的关系  
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2.9  
212  
208  
204  
200  
196  
192  
188  
VVCCI_ON  
VVCCI_OFF  
2.8  
2.7  
2.6  
2.5  
2.4  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
Junction Temperature (èC)  
Junction Temperature (èC)  
D011  
D010  
7-11. VCCI UVLO 阈值迟滞电压  
7-10. VCCI UVLO 阈值电压  
6
5.8  
5.6  
5.4  
5.2  
360  
350  
340  
330  
320  
VVDD_ON  
VVDD_OFF  
5
-40  
-20  
0
20  
40  
60  
80  
100 120 140  
-40  
-20  
0
20  
40  
60  
80  
100 120 140  
Temperature (èC)  
Temperature (èC)  
UDV0L0O1  
UDV0L0O1  
7-13. 5V VDD UVLO 迟滞电压  
7-12. 5V VDD UVLO 阈值电压  
9
8.7  
8.4  
8.1  
7.8  
7.5  
540  
530  
520  
510  
500  
VVDD_ON  
VVDD_OFF  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
Junction Temperature (èC)  
Junction Temperature (èC)  
D013  
D012  
7-15. 8V VDD UVLO 阈值迟滞电压  
7-14. 8V VDD UVLO 阈值电压  
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2.5  
2
875  
850  
825  
800  
775  
750  
IN/DIS High  
IN/DIS Low  
IN/DIS High  
1.5  
1
0.5  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
Junction Temperature (èC)  
Junction Temperature (èC)  
D015  
D014  
7-17. INA/INB/DIS 高和低阈值迟滞  
7-16. INA/INB/DIS 高和低阈值电压  
10  
8
37.5  
35  
Rising Edge (tPDLH  
Falling Edge (tPDHL  
)
)
OUTA/OUTB Pull-Up  
OUTA/OUTB Pull-Down  
32.5  
30  
6
27.5  
25  
4
2
22.5  
20  
0
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
Junction Temperature (èC)  
D017  
Junction Temperature (èC)  
D016  
7-19. 传播延迟上升沿和下降沿  
7-18. OUT 上拉和下拉电阻  
3
2
3
2
Rising Edge  
Falling Edge  
1
1
0
0
-1  
-2  
-3  
-1  
-2  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
Junction Temperature (èC)  
Junction Temperature (èC)  
D018  
D019  
t
PDLH tPDHL  
7-20. 传播延迟匹配上升沿和下降沿  
7-21. 脉宽失真度  
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10  
60  
56  
52  
48  
44  
40  
36  
32  
Rising  
Falling  
DIS Low to High  
DIS High to Low  
8
6
4
2
0
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
Junction Temperature (èC)  
Junction Temperature (èC)  
D020  
D021  
CL = 1.8nF  
7-23. 禁用响应时间  
7-22. 上升时间和下降时间  
2.5  
2
10  
9
VDD Open  
VDD Tied to VSS  
8
1.5  
1
7
6
0.5  
5
0
4
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
-40 -20  
0
20  
40  
60  
80 100 120 140 160  
Junction Temperature (èC)  
Junction Temperature (èC)  
D022  
D023  
7-24. 输出有源下拉电压  
7-25. 会改变输出的最小脉冲  
700  
600  
500  
400  
300  
200  
100  
6
5
RDT = 10kW  
RDT = 20kW  
RDT = 50kW  
RDT = 10kW  
RDT = 20kW  
RDT = 50kW  
4
3
2
1
0
-1  
-2  
0
-40 -20  
0
20  
40  
Junction Temperature (°C)  
60  
80 100 120 140 160  
-40 -20  
0
20  
40  
Junction Temperature (°C)  
60  
80 100 120 140 160  
D024  
D025  
7-26. 死区时间温漂  
7-27. 死区时间匹配  
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8 参数测量信息  
8.1 最小脉冲  
一个典型的 5-ns 抗尖峰脉冲滤波器便可以滤除接地反弹或开关瞬态引入的小输入脉冲。必须在 INA INB 上置  
位持续时间大于 tPWmin通常为 10 ns的输入脉冲才能保证 OUTA OUTB 上的输出状态变化。有关抗尖峰  
脉冲滤波器工作状况的详细信息请参阅8-1 8-2。  
INx  
VINH  
VINL  
VINH  
VINL  
INx  
tPWM < tPWmin  
tPWM < tPWmin  
OUTx  
OUTx  
8-1. 抗尖峰脉冲滤波通  
8-2. 抗尖峰脉冲滤波断  
8.2 传播延迟和脉宽失真度  
8-3 展示了如何根据通道 A B 的传播延迟计算脉宽失真度 (tPWD) 和延迟匹配 (tDM)。若要测量延迟匹配两  
个输入必须同相DT 引脚必须短接VCCI 以支持输出重叠。  
INA/B  
tPDHLA  
tPDLHA  
tDM  
OUTA  
tPDLHB  
tPDHLB  
tPWDB = |tPDLHB t tPDHLB|  
OUTB  
8-3. 延迟匹配和脉宽失真度  
8.3 上升和下降时间  
8-4 展示了衡量上升时间 (tRISE) 和下降时间 (tFALL) 的标准。有关如何实现较短上升时间和下降时间的更多信  
请参阅9.3.4。  
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90%  
tFALL  
80%  
tRISE  
20%  
10%  
8-4. 上升时间和下降时间标准  
8.4 输入和禁用响应时间  
8-5 展示了禁用功能的响应时间。如需了解更多信息请参9.4.1。  
INx  
DIS High  
Response Time  
DIS  
DIS Low  
Response Time  
OUTx  
tPDLH  
90%  
90%  
tPDHL  
10%  
10%  
10%  
8-5. 禁用引脚时序  
8.5 可编程死区时间  
DT 连接到 VCCI 可禁用 DT 功能并允许输出重叠。在 DT GND 之间放置一个电阻器 (RDT) 可根据以下公式  
调整死区时间DT (ns) = 10 × RDT (kΩ)TI 建议靠近 DT 引脚放置一个 2.2nF 或以上的陶瓷电容器来旁路此引  
从而实现更佳的抗噪性能。有关死区时间的更多详细信息请参阅9.4.2。  
INA  
INB  
90%  
10%  
OUTA  
tPDHL  
tPDLH  
90%  
10%  
OUTB  
tPDHL  
Dead Time  
Dead Time  
(Determined by Input signals if  
(Set by RDT  
)
longer than DT set by RDT  
)
8-6. 的死区时间开关参数  
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8.6 UVLO 到输出延迟  
每当电源电压 VCCI 从低于下降阈值 VVCCI_OFF 变为高于上升阈值 VVCCI_ON 以及每当电源电压 VDDx 从低于  
下降阈值 VVDDx_OFF 变为高于上升阈值 VVDDx_ON 输出开始响应输入前会存在一些延迟。对于 VCCI UVLO,  
此延迟定义为 tVCCI+ to OUT通常为 40 µs。对于 VDDx UVLO此延迟定义为 tVDD+ to OUT通常为 23 µsTI 建  
议在驱动输入信号前提供一些裕量以确保将驱动器 VCCI VDD 偏置电源完全激活。8-7 8-8 展示了  
VCCI VDD 的加UVLO 延迟时序图。  
每当电源电压 VCCI 降至下降阈值 VVCCI_OFF 以下或者 VDDx 降至下降阈值 VVDDx_OFF 以下时输出会停止响  
应输入并1 µs 内保持低电平。这种不对称延迟旨在确保器件能够VCCI VDDx 断电期间安全运行。  
VCCI 断开VDDx 存在时输出会保持低电平VDDx 断开时器件会通过有源下拉功能将输出钳位至  
低电平。如需更详细UVLO 功能说明请查9.3.1 部分。  
VCCI,  
INx  
VCCI,  
INx  
VVCCI_ON  
VVCCI_OFF  
VDDx  
VDDx  
OUTx  
tVCCI+ to OUT  
tVDD+ to OUT  
VVDD_ON  
VVDD_OFF  
OUTx  
8-7. VCCI UVLO 延迟  
8-8. VDDA/B UVLO 延迟  
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8.7 CMTI 测试  
8-9 CMTI 测试配置的简单示意图。  
VCC  
VDD  
VDDA  
INA  
16  
1
2
3
4
5
6
8
OUTA  
OUTA  
VSSA  
INB  
15  
14  
VCC  
VCCI  
GND  
DIS  
Functional  
Isolation  
VDDB  
11  
10  
9
OUTB  
GND  
DT  
OUTB  
VSSB  
VCCI  
VSS  
Common Mode Surge  
Generator  
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8-9. 简化CMTI 测试设置  
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9 详细说明  
9.1 概述  
为了快速开关功率晶体管并减少开关功率损耗通常会在控制器件的输出端和功率晶体管的栅极之间放置大电流  
栅极驱动器。在一些情况下控制器无法提供足够的电流来驱动功率晶体管的栅极。在使用数字控制器的情况下  
尤其如此因为来自数字控制器的输入信号通常3.3V 逻辑信号该信号仅能提供几毫安的电流。  
UCC21540-Q1 是一款灵活的双路栅极驱动器经过配置可支持各种不同的电源和电机驱动拓扑以及用于驱动  
多种类型的晶体管。UCC21540-Q1 具有很多特性能够与控制电路良好集成并能够保护所驱动的栅极这些特  
性包括可通过电阻器编程的死区时间 (DT) 控制、禁用引脚以及输入和输出电源的欠压锁定 (UVLO)。当输入  
端保留开路时或者输入脉冲持续时间过短时UCC21540-Q1 也会将其输出保持为低电平。驱动器输入端与  
CMOS TTL 兼容能够连接数字和模拟电源控制器等。每个通道均由其各自的输入引脚INA INB控制,  
因此能够完全独立地控制每个输出。  
9.2 功能方框图  
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9.3 特性说明  
9.3.1 VDDVCCI 和欠压锁(UVLO)  
UCC21540-Q1 针对两路输出 VDD VSS 引脚之间的每个电源电压提供内部欠压锁定 (UVLO) 保护功能。当  
VDD 偏置电压在器件启动后低VVDD_ON 或在启动后低VVDD_OFF 无论输入引脚的状态如何VDD UVLO  
功能都会将相应通道输出保持为低电平。VDDx UVLO 功能会在通道 A 和通道 B 之间独立工作允许需要低侧输  
出的自举系统在高侧偏置前能够进行充电。  
当驱动器的输出级处于未偏置或 UVLO 状态时驱动器输出通过限制驱动器输出上电压上升的有源钳位电路保持  
低电平9-1 所示。在这种情况下上部 PMOS 通过 RHi-Z 电阻性地保持关断而下部 NMOS 栅极通过  
R
CLAMP 连接到驱动器输出端。在该配置下输出被有效地钳位至下部 NMOS 器件的阈值电压不管是否存在偏  
置电源该阈值电压通常约1.75V。  
VDD  
RHI_Z  
Output  
Control  
OUT  
VSS  
RCLAMP  
RCLAMP is activated  
during UVLO  
9-1. 有源下拉功能的简化表示  
VDD UVLO 保护还具有迟滞功能 (VVDD_HYS)。当电源存在接地噪声时该迟滞可防止抖动。得益于此该器件还  
可以接受偏置电压小幅下降这种情况常见于器件开始开关和工作电流消耗突然增加时。  
UCC21540-Q1 的输入端还具有内部欠压锁定 (UVLO) 保护功能。除非电源电压 VCCI 在启动时超过 VVCCI_ON  
否则输入不会影响输出。当电源电压 VCCI 在启动后降至 VVCCI_OFF 以下时输出会保持低电平并且无法响应  
输入。与用VDD UVLO 相似这里存在迟(VVCCI_HYS) 以确保稳定运行。  
9-1. VCCI UVLO 功能逻辑(1)  
输入  
条件  
输出  
INA  
H
L
INB  
L
OUTA  
OUTB  
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
器件启动期VCCI-GND < VVCCI_ON  
器件启动期VCCI-GND < VVCCI_ON  
器件启动期VCCI-GND < VVCCI_ON  
器件启动期VCCI-GND < VVCCI_ON  
器件启动VCCI-GND < VVCCI_OFF  
器件启动VCCI-GND < VVCCI_OFF  
器件启动VCCI-GND < VVCCI_OFF  
器件启动VCCI-GND < VVCCI_OFF  
H
H
L
H
L
H
L
L
H
H
L
H
L
(1) VDDx > VDD_ON。  
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9-2. VDDx UVLO 功能逻辑(1)  
输入  
条件  
输出  
INA  
H
L
INB  
OUTA  
OUTB  
L
H
H
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
L
器件启动期VDD-VSS < VVDD_ON  
器件启动期VDD-VSS < VVDD_ON  
器件启动期VDD-VSS < VVDD_ON  
器件启动期VDD-VSS < VVDD_ON  
器件启动VDD-VSS < VVDD_OFF  
器件启动VDD-VSS < VVDD_OFF  
器件启动VDD-VSS < VVDD_OFF  
器件启动VDD-VSS < VVDD_OFF  
H
L
H
L
L
H
H
L
H
L
(1) VCCI > VCCI_ON。  
9.3.2 输入和输出逻辑表  
9-3. 输入/输出逻辑表(1) (2)  
VCCIVDDA VDDB 均已上电有关各UVLO 工作模式的更多信息请参阅9.3.19-3 展示INAINB  
DIS 以及相应输出状态下的工作状况。  
输入  
输出  
DIS  
备注  
INA  
L
INB  
L
OUTA  
OUTB  
L
L
L
L
L
L
L
L
L
H
L
如果使用死区时间功能则死区时间结束后会发生输出转换。请参阅节  
9.4.2。  
L
H
H
L
H
L
H
H
L
DT 使RDT 进行编程。  
DT 引脚会被拉高VCCI  
H
H
H
L
H
L
保留开路  
保留开路  
连接到远距离微控制器时可靠DIS 引脚放置不小1 nF 的低  
ESR/ESL 电容器进行旁路。  
X
X
H
L
L
(1) X”表LH 或保留开路。  
(2) 为了提高抗噪性能TI 建议在不使用时INAINB DIS 引脚连接GND DT 引脚连接VCCI。  
9.3.3 输入级  
UCC21540-Q1 的输入引脚INAINB DIS基于兼容 TTL CMOS 的输入阈值逻辑该逻辑与输出通道的  
VDD 电源完全隔离UCC21540-Q1 具有典型值为 1.8V 的高电平阈值 (VINAH) 和典型值为 1V 的低电平阈值并  
且随温度变化很小请参阅 和),因此可以使用逻辑电平控制信号例如来自 3.3V 微控制器轻松地驱动输入  
引脚。由于具有 0.8V 的宽迟滞 (VINA_HYS)器件具有出色的抗噪性能并且运行稳定。如果任何输入保持开路内  
部下拉电阻器会强制将对应引脚置于低电平。对于 INA/B这些电阻器通常为 200 kΩDIS 则为 50 kΩ请  
参阅9.2TI 建议将任何未用的输入接地。  
施加于输入的任何信号在振幅方面都不得超过 VCCI 引脚上的电压。UCC21540-Q1 无法使用输出电压大于 VCCI  
电压的模拟控制器来驱动。  
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9.3.4 输出级  
UCC21540-Q1 输出级采用上拉结构能够在最需要的时候提供最高的峰值拉电流在电源开关导通转换的米勒  
平坦区期间此时电源开关漏极或集电极电压经dV/dt。输出级上拉结构具备一P 沟道 MOSFET 与一个额  
外的上拉 N 沟道 MOSFET并联N 沟道 MOSFET 的功能是使峰值拉电流短暂提升从而实现快速导通。这  
是通过在输出状态从低电平变为高电平时在短时间内短暂导N MOSFET 来实现的。  
ROH 参数是直流测量值仅代表 P 沟道器件的导通电阻。这是因为上拉 N 沟道器件在直流条件下保持在关断状  
并且仅在输出状态从低电平变为高电平时短暂导通。因此在该短暂导通阶段UCC21540-Q1 上拉级的有  
效电阻远低ROH 参数所表示的值。  
UCC21540-Q1 的下拉结构包含一N MOSFETROL 参数也是一项直流测量值它表示器件中下拉状态下  
的阻抗。在轨至轨运行期间输出电压VDD VSS 之间波动。  
VDD  
ROH  
Shoot-  
RNMOS  
Input  
Signal  
Through  
Prevention  
Circuitry  
OUT  
VSS  
ROL  
Pull Up  
9-2. 输出级  
9.3.5 UCC21540-Q1 中的二极管结构  
9-3 展示ESD 保护元件中涉及的多个二极管。这提供了器件的绝对最大额定值的图形表示。  
VCCI  
3,8  
VDDA  
16  
20 V  
15 OUTA  
14 VSSA  
6 V 6 V  
INA  
INB  
DIS  
DT  
1
2
5
6
11 VDDB  
10 OUTB  
20 V  
4
9
GND  
VSSB  
9-3. ESD 结构  
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9.4 器件功能模式  
9.4.1 禁用引脚  
DIS 引脚设为高电平时两个输出同时关断。当 DIS 引脚设为低电平时UCC21540-Q1 正常运行。连接到远  
距离微控制器时可靠DIS 引脚放置1 nF ESR/ESL 电容器进行旁路。DIS 电路逻辑结构与 INA INB  
的相似而传播延迟典型性能可以在中找到。只有当 VCCI 保持在 UVLO 阈值以上时DIS 引脚才起作用并且是  
必需的。如果不使DIS 引脚建议将此引脚连接GND以实现更佳的抗噪性能。  
9.4.2 可编程死区时(DT) 引脚  
UCC21540-Q1 使用户能够通过以下方式调整死区时(DT):  
9.4.2.1 DT 引脚连接VCCI  
输出与输入完全匹配因此不会置位最小死区时间。这允许将输出重叠。如果不使用该引脚TI 建议将其直接连  
VCCI以实现更佳的抗噪性能。  
9.4.2.2 DT GND 引脚之间连接编程电阻器  
DT 引脚和 GND 之间放置一个电阻器 RDT则可对 tDT 进行编程。TI 建议靠近 DT 引脚放置一个 2.2 nF 或以  
上的陶瓷电容器来旁路此引脚从而实现更佳的抗噪性能。可以根据以下公式确定合适RDT :  
tDT ö 10ìRDT  
其中  
(1)  
tDT 是已编程设定的死区时间单位为纳秒。  
RDT DT 引脚GND 之间的电阻值单位为千欧。  
DT 引脚上的稳态电压约0.8VRDT 对此引脚上的小电流进行编程用于设置死区时间。随着 RDT 值增加DT  
引脚上的电流减小。RDT = 100 kΩDT 引脚上的电流将小10 µA。对于更大RDT TI 建议尽可能靠  
DT 引脚放置 RDT 和一个 2.2 nF 或以上的陶瓷电容器从而实现更佳的抗噪性能并在两个通道之间获得更出色  
的死区时间匹配。  
一个输入信号的下降沿会启动已编程设定的另一个信号的死区时间。已编程设定的死区时间是驱动器将两个输出  
保持低电平的最短强制持续时间。如果 INA INB 信号包含的死区持续时间长于已编程设定的最短时间则输出  
保持低电平的持续时间也会长于已编程设定的死区时间。如果两个输入同时都处于高电平两个输出都将立即设  
为低电平。此功能用于在半桥应用中防止击穿并且它并不影响正常运行所需的已编程设定的死区时间。“各种  
输入信号条件下输入与输出逻辑之间的关系”显示并说明了各种驱动器死区时间逻辑工作条件。  
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INA  
INB  
DT  
OUTA  
OUTB  
A
B
C
D
E
F
9-4. 各种输入信号条件下输入与输出逻辑之间的关系  
条件 AINB 变为低电平INA 变为高电平。INB 立即将 OUTB 设为低电平并将已编程设定的死区时间分配给  
OUTA。在已编程设定的死区时间后OUTA 能够变为高电平。  
条件 BINB 变为高电平INA 变为低电平。INA 现在立即将 OUTA 设为低电平并将已编程设定的死区时间分配  
OUTB。在已编程设定的死区时间后OUTB 能够变为高电平。  
条件 CINB 变为低电平INA 仍为低电平。INB 立即将 OUTB 设为低电平并分配用于 OUTA 的编程死区时间。  
在这种情况下输入信号死区时间长于已编程设定的死区时间。当 INA 在输入信号死区时间后变为高电平时它  
立即OUTA 设为高电平。  
条件 DINA 变为低电平INA 仍为低电平。INA 立即将 OUTA 设为低电平并将已编程设定的死区时间分配给  
OUTB。在这种情况下输入信号死区时间长于已编程设定的死区时间。当 INB 在输入信号死区时间后变为高电  
平时它立即OUTB 设为高电平。  
条件 EINA 变为高电平INB OUTB 仍为高电平。为了避免过冲OUTB 被立即拉至低电平。一段时间  
OUTB 变为低电平并将已编程设定的死区时间分配给 OUTAOUTB 已经为低电平。在已编程设定的死区时  
间后OUTA 能够变为高电平。  
条件 FINB 变为高电平INA OUTA 仍为高电平。为了避免过冲OUTA 被立即拉至低电平。一段时间  
OUTA 变为低电平并将已编程设定的死区时间分配给 OUTBOUTA 已经为低电平。在已编程设定的死区时  
间后OUTB 能够变为高电平。  
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10 应用和实现  
备注  
以下应用部分中的信息不属TI 器件规格的范围TI 不担保其准确性和完整性。TI 的客 户应负责确定  
器件是否适用于其应用。客户应验证并测试其设计以确保系统功能。  
10.1 应用信息  
UCC21540-Q1 有效地将隔离功能和缓冲器驱动功能结合在一起。 UCC21540-Q1具有高达 5.5V VCCI 和  
18V VDDA/VDDB具有灵活而通用的功能这使得该器件能够用MOSFETIGBT GaN 晶体管的低侧、  
高侧、高侧/低侧或半桥驱动器。UCC21540-Q1 具有集成组件、高级保护功能UVLO、死区时间和禁用和经  
过优化的开关性能使设计人员可以为企业、电信、汽车和工业应用打造更小、更强大的设计并缩短产品上市时  
间。  
10.2 典型应用  
10-1 中的电路展示了采用 UCC21540-Q1 驱动典型半桥配置的参考设计该参考设计可以用在多种常见的电源  
转换器拓扑中例如同步降压、同步升压、半桥/全桥隔离式拓扑以及三相电机驱动应用。  
VDD  
VCC  
RBOOT  
HV DC-Link  
CIN  
VCC  
VDDA  
INA  
INB  
ROFF  
RON  
16  
15  
14  
PWM-A  
1
2
3
4
5
6
8
RIN  
OUTA  
VSSA  
PWM-B  
RGS  
CBOOT  
VCCI  
GND  
DIS  
CIN  
C  
CVCC  
SW  
Functional  
Isolation  
VDD  
DIS  
VDDB  
I/O  
ROFF  
RON  
11  
10  
9
RDIS  
CDIS  
DT  
OUTB  
VSSB  
RGS  
VCCI  
CVDD  
RDT  
CDT  
2.2nF  
VSS  
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10-1. 典型应用原理图  
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10.2.1 设计要求  
10-1 列出了示例应用的参考设计参数UCC21540-Q1 驱动采用高侧/低侧配置650V MOSFET。  
10-1. UCC21540-Q1 设计要求  
参数  
功率晶体管  
VCC  
单位  
-
650V150 mΩRDS_ON 12V VGS  
5.0  
12  
V
V
VDD  
3.3  
100  
200  
400  
V
输入信号振幅  
开关频(fs)  
死区时间  
直流链路电压  
kHz  
ns  
V
10.2.2 详细设计过程  
10.2.2.1 INA/INB 输入滤波器  
建议用户不要通过对输入栅极驱动器的信号进行整形来尝试减慢或延迟输出端的信号。不过可以使用小输  
RIN-CIN 滤波器来滤除非理想布局或PCB 迹线引入的振铃。  
此类滤波器应当使0Ω100Ω围内的 RIN 10 pF 100 pF 之间的 CIN。在示例中RIN = 51ΩCIN  
33 pF而转折频率约100 MHz。  
=
在选择这些元件时一定要注意在出色抗噪性能与传播延迟之间进行权衡。  
10.2.2.2 选择死区时间电阻器和电容器  
方程式 1 中选择了一个 20 kΩ 电阻器来将死区时间设置为 200 ns。在 DT 引脚附近并联了一个 2.2 nF 电容器来  
提高抗噪性能。  
10.2.2.3 选择外部自举二极管及其串联电阻  
每个周期当低侧晶体管导通时自举电容器会由 VDD 通过外部自举二极管进行充电。为电容器充电涉及到高峰  
值电流因此自举二极管上的瞬态功率耗散可能会非常大。导通损耗还取决于二极管的正向压降。栅极驱动器电  
路中的总损耗包括二极管导通损耗和反向恢复损耗。  
选择外部自举二极管时TI 建议选择高电压、快速恢复二极管或者具有低正向压降和低结电容的 SiC 肖特基二极  
以最大限度地减少反向恢复和相关接地噪声反弹引入的损耗。本例中直流链路电压为 400VDC。自举二极管  
的额定电压应该大于直流链路电压并保留充分的裕度。因此本例中选择600V 超快速二极MURA160T3G。  
自举电阻器 RBOOT 用于减少每个开关周期内 DBOOT 中的浪涌电流并限制 VDDA-VSSA 电压的斜升压摆率尤其  
VSSA(SW) 引脚具有过大的负瞬态电压时。RBOOT 的建议值在 1Ω 和 20Ω 之间具体取决于所用的二极管。  
本例中选择了一2.7Ω流电阻器来限制自举二极管中的浪涌电流。在最坏的情况下DBoot 的峰值电流估  
计为:  
VDD - VBDF  
RBoot  
12V -1.5V  
2.7W  
IDBoot pk  
=
=
ö 4A  
(
)
(2)  
其中  
VBDF 4A 条件下自举二极管上的预计正向压降。  
如不能将 VDDx-VSSx 的电压限制在 FET UCC21540-Q1 的绝对最大额定值以下在某些情况下可能对器件造  
成永久损坏。  
10.2.2.4 栅极驱动器输出电阻器  
外部栅极驱动器电阻RON/ROFF 用于:  
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• 限制寄生电感/电容引起的振铃。  
• 限制高电压/电流开dv/dtdi/dt 和体二极管反向恢复引起的振铃。  
• 微调栅极驱动强度即峰值灌电流和拉电流以优化开关损耗。  
• 降低电磁干(EMI)。  
9.3.4 中所述UCC21540-Q1 具有包含并联 P 沟道 MOSFET 和额外上拉 N 沟道 MOSFET 的上拉结构。  
组合峰值拉电流4A。因此可使用以下公式来预测峰值拉电流:  
VDD - VBDF  
RNMOS ||ROH + RON + RGFET _Int  
IOA+ = min 4A,  
÷
÷
«
(3)  
(4)  
VDD  
IOB+ = min 4A,  
÷
÷
«
RNMOS ||ROH + RON + RGFET _Int  
其中  
RON外部导通电阻。  
RGFET_INT功率晶体管内部栅极电阻见于功率晶体管数据表。  
IO+ = 峰值拉电4A、栅极驱动器峰值拉电流和根据栅极驱动回路电阻计算出的值中的最小值。  
在本例中:  
VDD - VBDF  
RNMOS ||ROH + RON + RGFET _Int 1.47W || 5W + 2.2W +1.5W  
12V - 0.8V  
IOA+  
=
=
ö 2.3A  
ö 2.5A  
(5)  
(6)  
VDD  
RNMOS ||ROH + RON + RGFET _Int 1.47W || 5W + 2.2W +1.5W  
12V  
IOB+  
=
=
因此高侧和低侧峰值拉电流分别2.3A 2.5A。类似地可以使用以下公式来计算峰值灌电流:  
VDD - VBDF - VGDF  
ROL +ROFF ||RON +RGFET _Int  
IOA- = min 6A,  
÷
÷
«
(7)  
(8)  
VDD - VGDF  
ROL + ROFF ||RON + RGFET _Int  
IOB- = min 6A,  
÷
÷
«
其中  
ROFF在本例中外部关断电ROFF 0;  
VGDFROFF 串联的反向并联二极管正向压降。本例中的二极管MSS1P4。  
IO-峰值灌电6A、栅极驱动器峰值灌电流和根据栅极驱动回路电阻计算出的值中的最小值。  
在本例中:  
VDD - VBDF - VGDF  
ROL +ROFF ||RON +RGFET _Int  
12V - 0.8V -0.85V  
0.55W + 0W +1.5W  
IOA-  
=
=
ö 5.0A  
(9)  
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VDD - VGDF  
ROL + ROFF ||RON + RGFET _Int 0.55W + 0W +1.5W  
12V - 0.85V  
IOB-  
=
=
ö 5.4A  
(10)  
因此高侧和低侧峰值灌电流分别5.0A 5.4A。  
重要的是估算的峰值电流也PCB 布局和负载电容的影响。栅极驱动器环路中的寄生电感可以减慢峰值栅极驱  
动电流并导致过冲和下冲。因此强烈建议最大限度地缩小栅极驱动器环路。另一方面当功率晶体管的负载电  
(CISS) 非常小通常小1 nF峰值拉电流/灌电流取决于环路寄生效应因为上升和下降时间太短接近  
于寄生振铃周期。  
如果不能将 OUTx 电压控制在数据表中的绝对最大额定值以下包括瞬态),在某些情况下可能对器件造成永久  
损坏。若要减少过多的栅极振铃建议FET 栅极附近放置一个铁氧体磁珠。存在扩展的过冲/下冲时也可以使  
用外部钳位二极管以便OUTx 电压钳位VDDx VSSx 电压。  
10.2.2.5 栅极至源极电阻器选择  
当栅极驱动器输出未上电并处于不确定的状态时建议使用栅极至源极电阻器 RGS 将栅极下拉至源极电压。此电  
阻器还有助于在栅极驱动器能够导通并主动拉至低电平之前降低米勒电流导致的由 dv/dt 引起的导通风险。该电  
阻器的大小通常介5.1 kΩ20 kΩ具体取决于功率器件Vth CGD CGS 之比。  
10.2.2.6 估算栅极驱动器功率损耗  
栅极驱动器子系统中的总损PG UCC21540-Q1 (PGD) 的功率损耗和外围电路如外部栅极驱动电阻器中  
的功率损耗。自举二极管损耗并未包含PG 本节中也不对其进行讨论。  
PGD 是关键功率损耗它决定了 UCC21540-Q1 的热安全相关限值可以通过计算几个分量产生的损耗来对其进  
行估算。  
第一个分量是静态功率损PGDQ其中包括以特定开关频率工作时驱动器上的静态功率损耗以及驱动器的自身功  
耗。PGDQ 是在给VCCIVDDA/VDDB、开关频率和环境温度下在无负载连接OUTA OUTB 时在工作台  
上测量。 和 展示了无负载条件下工作电流消耗与工作频率之间的关系。在本例中VVCCI = 5V VVDD = 12V。  
INA/INB 100 kHz 频率从 0V 切换至 3.3V 测得每个电源上的电流 IVCCI 2.5 mA IVDDA = IVDDB  
1.5 mA。因此可以通过以下公式计PGDQ  
PGDQ = VVCCI ìIVCCI + VVDDA ìIDDA + VVDDB ìIDDB = 50mW  
(11)  
第二个分量是开关操作损PGDO此时具有给定的负载电容驱动器在每个开关周期中对其进行充电和放电。负  
载开关产生的总动态损PGSW 可以通过以下公式进行估算:  
PGSW = 2ì VDD ìQG ì fSW  
(12)  
其中  
QG 是功率晶体管的栅极电荷。  
如果使用分离轨进行开启和关闭VDD 将等于正电源轨和负电源轨之差。  
因此在本应用示例中:  
PGSW = 2ì12V ì100nCì100kHz = 240mW  
(13)  
QG 表示功率晶体管在以数据表中所提供的 14A 电流和 480V 电压进行开关时的总栅极电荷该电荷随测试条件  
的变化而变化。输出级上的 UCC21540-Q1 栅极驱动器损耗 PGDO PGSW 的一部分。如果外部栅极驱动器电阻  
0ΩPGDO 将等PGSW并且所有栅极驱动器损耗都将UCC21540-Q1 内耗散。如果存在外部导通和关  
断电阻则总损耗将分布在栅极驱动器上拉/下拉电阻和外部栅极电阻之间。重要的是如果拉电流/灌电流未达到  
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4 A/6 A 饱和值则上拉/下拉电阻是线性的固定电阻但是如果拉电流/灌电流达到饱和它将是非线性的。因  
PGDO 在这两种情形下是不同的。  
1 - 线性上拉/下拉电阻器:  
PGSW  
2
ROH ||RNMOS  
ROL  
PGDO  
=
ì
+
«
÷
÷
ROH ||RNMOS +RON +RGFET _Int ROL +ROFF ||RON + RGFET _Int  
(14)  
在此设计示例中所有预测的拉电流/灌电流均小于 4A/6A因此可以使用以下公式来估算 UCC21540-Q1 栅极驱  
动器损耗:  
«
÷
240mW  
2
5W ||1.47W  
0.55W  
PGDO  
=
ì
+
ö 60mW  
5W ||1.47W + 2.2W +1.5W 0.55W + 0W +1.5W  
(15)  
(16)  
2 - 非线性上拉/下拉电阻器:  
TR _ Sys  
TF _ Sys  
»
ÿ
Ÿ
PGDO = 2ì fSW ì 4A ì  
VDD - VOUTA/B  
t
dt + 6A ì  
VOUTA/B t dt  
( )  
( )  
(
)
Ÿ
0
0
Ÿ
其中  
VOUTA/B(t) 为栅极驱动OUTA OUTB 引脚在导通和关断瞬变期间的电压它可以简化为恒流源在导通时  
4A在关断时6A对负载电容器进行充电或放电。因此VOUTA/B(t) 波形将是线性的可以轻松地预测  
TR_Sys TF_Sys。  
对于某些情形如果只有一个上拉或下拉电路饱和而另一个不饱和PGDO 是情况 1 和情况 2 的组合可以  
根据上面的论述轻松地识别上拉和下拉的方程。因此栅极驱动器 UCC21540-Q1 中的总栅极驱动器损耗 PGD  
:  
PGD = PGDQ + PGDO  
(17)  
在本设计示例中该值等127 mW。  
10.2.2.7 估算结温  
UCC21540 UCC21540-Q1 的结温可以通过以下公式进行估算:  
TJ = TC + YJT ìPGD  
(18)  
其中  
TJ 是结温。  
TC 是用热电偶或其他仪器测得UCC21540-Q1 外壳温度。  
• ψJT 是来自7.4 表的结至顶特征参数。  
使用结至顶特征参数 (ΨJT) 代替结至外壳热阻 (RΘJC) 可以极大地提高结温估算的准确性。大多数 IC 的大部分热  
能通过封装引线释放到 PCB 而总能量中仅有一小部分通过外壳顶部通常在此处进行热电偶测量进行释  
放。只有在大部分热能通过外壳释放时例如采用金属封装或对 IC 封装应用散热器时),才能有效地使用 RΘJC  
电阻。在所有其他情况下使RΘJC 将无法准确地估算真实的结温。ΨJT 是通过假设通过 IC 顶部的能量在测试  
环境和应用环境中相似而通过实验得出的。只要遵循建议的布局指南就可以准确地进行结温估算将误差限制  
在几摄氏度内。更多信息请参阅12.1 《半导体IC 封装热指标》应用报告。  
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10.2.2.8 VCCIVDDA/B 电容器  
VCCIVDDA VDDB 的旁路电容器对于实现可靠的性能至关重要。TI 建议选择具有足够额定电压、温度系数  
和电容容差的低 ESR ESL、表面贴装型多层陶瓷电容(MLCC)。重要的是MLCC 上的直流偏置会影响实  
际电容值。例如当施15VDC 的直流偏置时25V1µF X7R 电容器的电容仅500 nF。  
10.2.2.8.1 VCCI 电容器  
连接VCCI 的旁路电容器支持初级逻辑所需的瞬态电流以及总电流消耗后者仅为mA。因此该应用建议使  
100 nF 以上25V MLCC。如果偏置电源输出VCCI 引脚的距离相对较长则应使用值大1 μF 的钽或电  
解电容器MLCC 并联。  
10.2.2.8.2 VDDA自举电容器  
VDDA 电容器在自举电源配置中也被称为自举电容器用于支持高达 4A拉电流峰值电流的栅极驱动电流瞬变  
并需要为功率晶体管维持稳定的栅极驱动电压。  
每个开关周期所需的总电荷可以通过以下公式进行估算:  
IVDD @100kHz No Load  
(
fSW  
)
= 100nC +  
1.5mA  
QTotal = QG +  
= 115nC  
100kHz  
(19)  
其中  
QTotal所需总电荷  
QG功率晶体管的栅极电荷。  
IVDD100 kHz、空载条件下通道自身的电流消耗。  
fSW栅极驱动器的开关频率  
因此所需CBoot 绝对最小值如下:  
QTotal  
115nC  
0.5V  
CBoot  
=
=
= 230nF  
DVVDDA  
(20)  
其中  
• ΔVVDDA VDDA 处的电压纹波在本例中0.5V。  
在实践中CBoot 的值要大于计算所得的值。这样便允许存在直流偏置电压导致的电容变化以及支持功率级原本  
会因负载瞬态而跳过一些脉冲的情况。因此建议在 CBoot 值中包含一定的裕量并将该电容器尽可能靠近 VDD  
VSS 引脚放置。本例中选择了一50V1 µF 电容器。  
CBoot=1F  
(21)  
选择自举电容器时应注意确保 VDD VSS 的电压不会降至第 6.3 节中所建议的最低工作电平以下。应相应地  
调整自举电容器的值使其可以提供初始电荷来开关功率器件然后在高侧导通期间持续提供栅极驱动器静态电  
流。  
如果高侧电源电压降至 UVLO 下降阈值以下高侧栅极驱动器输出将关断并会关闭功率器件。如果以不受控的方  
式硬开关功率器件则会导致驱动器输出端出现di/dt dv/dt 瞬态并可能对器件造成永久损坏。  
若要进一步降低宽频率范围内的交流阻抗建议靠近 VDDx - VSSx 引脚放置具有低 ESL/ESR 的旁路电容器。本  
例中将一100 nFX7R 陶瓷电容器CBoot 并联来优化瞬态性能。  
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备注  
使用过大CBOOT 不见得好。在前几个周期内CBOOT 可能并不会充电VBOOT 会保持UVLO 以  
下。因此高侧 FET 并不会跟随输入信号命令。另外在初始 CBOOT 充电周期期间自举二极管具有最  
高的反向恢复电流和损耗。  
10.2.2.8.3 VDDB 电容器  
通道 B 具有与通道 A 相同的电流要求因此需要 VDDB 电容器10-1 中显示为 CVDD。在这个采用自举  
配置的示例中VDDB 电容器还通过自举二极管为 VDDA 供电。这里CVDD 选择了一50V10 μF MLCC 和  
一个 50V220 nF MLCC。如果偏置电源输出与 VDDB 引脚的距离相对较长则应使用电容值大于 10 μF 的钽  
或电解电容器CVDD 并联。  
10.2.2.9 具有输出级负偏置的应用电路  
当非理想 PCB 布局和长封装引线TO-220 TO-247 型封装引入寄生电感时di/dt dv/dt 开关期间  
功率晶体管的栅极源驱动电压会出现振铃。如果振铃超过阈值电压则存在意外导通风险甚至会发生击穿。为  
了将此类振铃保持在阈值以下一种常见的方式是在栅极驱动上施加负偏置。下面是实现负栅极驱动偏置的几个  
例子。  
10-2 展示了通过在隔离式电源输出级使用齐纳二极管来在通A 驱动器上生成负偏置关断的第一个例子。负偏  
置由齐纳二极管电压设置。如果隔离式电源 VA 等于 17V则关断电压为 –5.1V导通电压为 17V 5.1V ≈  
12V。通道 B 驱动器电路与通道 A 的相同因此该配置需要两个用于半桥配置的电源并且 RZ 上存在稳态功  
耗。  
HV DC-Link  
VDDA  
ROFF  
16  
1
CA1  
+
VA  
œ
CIN  
RZ  
RON  
OUTA  
VSSA  
15  
14  
2
3
4
5
6
8
CA2  
VZ  
SW  
Functional  
Isolation  
VDDB  
11  
10  
9
OUTB  
VSSB  
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10-2. ISO 偏置电源输出上的齐纳二极管生成负偏置  
10-3 展示了采用两个电源或单输入双输出电源的另一个例子。电源 VA+ 决定正驱动输出电压VA决  
定负关断电压。通道 B 的配置与通道 A 的相同。此解决方案所需的电源数量要比第一个例子中的多不过它在设  
置正负电源轨电压时提供了更大的灵活性。  
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HV DC-Link  
VDDA  
OUTA  
ROFF  
RON  
16  
15  
1
2
3
4
5
6
8
CA1  
+
VA+  
œ
CIN  
CA2  
+
VA-  
œ
VSSA  
SW  
14  
Functional  
Isolation  
VDDB  
11  
10  
9
OUTB  
VSSB  
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10-3. 利用两LSO 偏置电源生成负偏置  
10-4 所示最后一个例子是单电源配置并通过栅极驱动环路中的齐纳二极管来生成负偏置。此解决方案的  
优势是它仅使用一个电源并且自举电源可用于高侧驱动。在这三种解决方案中此设计的成本最低所需设  
计工作量也最少。不过此解决方案有以下局限性:  
1. 负栅极驱动偏置不仅取决于齐纳二极管而且还取决于占空比这意味着当占空比变化时负偏置电压也会变  
化。因此在此解决方案中使用变频谐振转换器或相移转换器等具有固定占空(~50%) 的转换器比较有  
利。  
2. VDDA-VSSA 必须维持足够的电压来保持在建议的电源电压范围内这意味着在每个开关周期的一段时  
间内低侧开关必须导通或在体或反向并联二极管上存在续流电流以便刷新自举电容器。因此除非高侧  
使用专用电源如另外两个示例电路中那样否则高侧无法实100% 占空比。  
VDD  
RBOOT  
HV DC-Link  
VDDA  
CZ  
VZ  
ROFF  
RON  
16  
15  
14  
1
2
3
4
5
6
8
OUTA  
VSSA  
CIN  
CBOOT  
RGS  
SW  
Functional  
Isolation  
VDD  
VDDB  
CZ  
VZ  
ROFF  
RON  
11  
10  
9
OUTB  
VSSB  
CVDD  
RGS  
VSS  
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10-4. 利用单电源和栅极驱动路径上的齐纳二极管产生负偏置  
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10.2.3 应用曲线  
10-5 10-6 展示了以下条件下10-1 所示设计示例的基准测试波形VCC = 5.0VVDD = 12VfSW  
100 kHz VDC-Link = 400V。  
=
1蓝色):高侧功率晶体管上的栅极源信号。  
2青色):低侧功率晶体管上的栅极源信号。  
3粉色):INA 引脚信号。  
4绿色):INB 引脚信号。  
10-5 通过 INA INB 发送互补的 3.3V20%/80% 占空比信号。功率晶体管上的栅极驱动信号具有  
200 ns 死区时间并且直流链路上存在 400V 高压10-5 的测量部分所示。请注意存在高电压时需要使  
用带宽较小的差分探头而这会限制测量可达到的精度。  
10-6 展示了 10-5 波形的放大图其中提供了传播延迟和死区时间的测量数据。重要的是输出波形是在功  
率晶体管的栅极和源极引脚之间测得的而不是直接在驱动OUTA OUTB 引脚上测得的。  
10-5. INA/B OUTA/B 的基准测试波形  
10-6. 基准测试波形放大图  
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11 电源相关建议  
UCC21540-Q1 的建议输入电压 (VCCI) 介于 3V 5.5V 之间。输出偏置电源电压 (VDDA/VDDB) 位于 6.0V 到  
18V 范围内。该偏置电源电压范围的下限由每个器件内置的欠压锁定 (UVLO) 保护功能进行控制。正常运行期  
VDD VCCI 不得低于其各自的 UVLO 阈值。有关 UVLO 的更多信息请参阅9.3.1VDDA/VDDB  
范围的上限取决于UCC21540-Q1 驱动的功率器件的最大栅极电压。建议VDDA/VDDB 最大值18V。  
应当在 VDD VSS 引脚之间放置一个本地旁路电容器以便在输出变为高电平时向容性负载供电。该电容应尽  
可能靠近器件放置以最大限度地减少寄生阻抗。建议使用低 ESR 陶瓷表面贴装电容器。如果旁路电容器阻抗过  
电阻和电感寄生效应会导致 IC 引脚上的电源电压意外降至 UVLO 阈值以下。若要滤除 VDD VSS 之间的  
高频噪声可以再添加一个在较高频率下具有较低阻抗的电容器。例如初级旁路电容器可以为 1 µF而次级高  
频旁路电容器100 nF。  
类似地还应在 VCCI GND 引脚之间放置一个旁路电容器。假设 UCC21540-Q1 输入侧逻辑电路汲取的电流  
很小那么该旁路电容器可以使100 nF 的建议最小值。  
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12 布局  
12.1 布局指南  
为了实UCC21540-Q1 的最佳性能应考虑这PCB 布局指南。  
12.1.1 元件放置注意事项  
• 必须VCCI GND 引脚之间以VDD VSS 引脚之间靠近器件的位置连接ESR ESL 电容器以  
在外部功率晶体管导通时支持高峰值电流。  
• 为了避免桥接配置中开关节VSSA (HS) 引脚上产生较大的负瞬态必须最大限度地减小顶部晶体管源极和  
底部晶体管源极之间的寄生电感。  
• 为了改进从远距离微控制器或高阻抗源驱DIS 引脚时的抗噪性能TI 建议DIS 引脚GND 之间添加一个  
小型旁路电容(1000pF)。  
• 如果使用死区时间功能TI 建议靠UCC21540-Q1 DT 引脚放置编程电阻RDT 和旁路电容器以防噪  
声意外耦合到内部死区时间电路上。该电容器不应小2.2 nF。  
12.1.2 接地注意事项  
• 务必要将对晶体管栅极进行充电和放电的高峰值电流限制在最小的物理环路区域内。这样将会降低环路电感并  
最大限度地降低晶体管栅极端子上的噪声。栅极驱动器必须尽可能靠近晶体管放置。  
• 注意高电流路径其中包含自举电容器、自举二极管、局部接地参考旁路电容器和低侧晶体管体二极管/反并联  
二极管。自举电容器VDD 旁路电容器通过自举二极管逐周期进行重新充电。这种重新充电行为发生在较短  
的时间间隔内需要高峰值电流。尽可能减小印刷电路板上的环路长度和面积对于确保可靠运行至关重要。  
12.1.3 高电压注意事项  
• 为确保初级侧和次级侧之间的隔离性能请避免在驱动器器件下方放置任PCB 迹线或覆铜。建议使PCB  
切口以防止发生可能影响隔离性能的污染。  
• 对于半桥或高侧/低侧配置应最大限度地增PCB 布局中高侧和低PCB 迹线之间的间隙距离。DWK 封装  
中移除了引12 和引13并具3.3mm 的最小爬电距离这样可以获得更高的总线电压。  
12.1.4 散热注意事项  
• 如果驱动电压较高负载较重或开关频率较高UCC21540-Q1 可能会耗散较大的功率更多详细信息,  
请参阅10.2.2.6。适当PCB 布局有助于将器件产生的热量散发PCB并最大限度地降低结到电路板  
的热阻(θJB)。  
• 建议增加连接VDDAVDDBVSSA VSSB 引脚PCB 覆铜并优先考虑最大限度地增加VSSA 和  
VSSB 的连接请参阅12-2 12-3。不过必须考虑前面提及的高电PCB 注意事项。  
• 如果系统有多个层则还建议通过具有足够尺寸的通孔VDDAVDDBVSSA VSSB 引脚连接到内部接  
地平面或电源平面。确保不要重叠来自不同高电压平面的迹线或覆铜。  
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12.2 布局示例  
12-1 展示了一个 2 PCB 布局示例其中标出了 SOIC-14 DW 封装的信号和关键元件并移除了引脚 12 和  
13。更多详细信息请参UCC21540EVM -“使UCC21540EVM - TI”  
12-1. 布局示例  
12-2 12-3 展示了顶层和底层迹线和覆铜。  
备注  
初级侧和次级侧之间没PCB 迹线或覆铜从而确保了隔离性能。  
输出级中高侧和低侧栅极驱动器之间PCB 迹线有所增加有助于最大限度地扩大高压运行的爬电距离同时还  
将更大限度地减少开关节点 VSSA (SW)可能存在高 dv/dt和低侧栅极驱动器之间由寄生电容耦合导致的串  
扰。  
12-3. 底层迹线和覆铜翻转)  
12-2. 顶层迹线和覆铜  
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12-4 12-5 分别3D 布局的顶视图和底视图。  
备注  
初级侧和次级侧之间PCB 切口位置确保了隔离性能。  
12-4. 3D PCB 顶视图  
12-5. 3D PCB 底视图  
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13 器件和文档支持  
13.1 文档支持  
13.1.1 相关文档  
如需相关文档请参阅隔离相关术语  
13.2 接收文档更新通知  
要接收文档更新通知请导航至 ti.com 上的器件产品文件夹。点击订阅更新 进行注册即可每周接收产品信息更  
改摘要。有关更改的详细信息请查看任何已修订文档中包含的修订历史记录。  
13.3 支持资源  
TI E2E支持论坛是工程师的重要参考资料可直接从专家获得快速、经过验证的解答和设计帮助。搜索现有解  
答或提出自己的问题可获得所需的快速设计帮助。  
链接的内容由各个贡献者“按原样”提供。这些内容并不构成 TI 技术规范并且不一定反映 TI 的观点请参阅  
TI 《使用条款》。  
13.4 商标  
TI E2Eis a trademark of Texas Instruments.  
所有商标均为其各自所有者的财产。  
13.5 静电放电警告  
静电放(ESD) 会损坏这个集成电路。德州仪(TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理  
和安装程序可能会损坏集成电路。  
ESD 的损坏小至导致微小的性能降级大至整个器件故障。精密的集成电路可能更容易受到损坏这是因为非常细微的参  
数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。  
13.6 术语表  
TI 术语表  
本术语表列出并解释了术语、首字母缩略词和定义。  
14 机械、封装和可订购信息  
以下页面包含机械、封装和可订购信息。这些信息是指定器件的最新可用数据。数据如有变更恕不另行通知,  
且不会对此文档进行修订。如需获取此数据表的浏览器版本请查阅左侧的导航栏。  
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具有 8V UVLO、双输入、禁用引脚、采用 DW 封装的 5.7kVrms、1.5A/2.5A 双通道隔离式栅极驱动器 | DW | 16 | -40 to 125
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UCC21542ADWK

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