SSM6P49NU [TOSHIBA]

TRANSISTOR 4 A, 20 V, 0.045 ohm, 2 CHANNEL, P-CHANNEL, Si, POWER, MOSFET, 2-1Y1A, UDFN6, 6 PIN, FET General Purpose Power;
SSM6P49NU
型号: SSM6P49NU
厂家: TOSHIBA    TOSHIBA
描述:

TRANSISTOR 4 A, 20 V, 0.045 ohm, 2 CHANNEL, P-CHANNEL, Si, POWER, MOSFET, 2-1Y1A, UDFN6, 6 PIN, FET General Purpose Power

开关 脉冲 光电二极管 晶体管
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SSM6P49NU  
東芝電界効果トランジスタ シリコンPチャネルMOS(U-MOS)  
SSM6P49NU  
単位: mm  
パワーマネジメントスイッチ  
2.0 0.1  
±
B
A
1.8 V 駆動です  
オン抵抗が低い: RDS(ON) = 157 m(max) (@V  
= -1.8 V)  
= -2.5 V)  
= -4.5 V)  
= -10 V)  
GS  
RDS(ON) = 76 m(max) (@V  
RDS(ON) = 56 m(max) (@V  
RDS(ON) = 45 m(max) (@V  
GS  
GS  
GS  
0
0.05  
0.13  
絶対最大定格 (Ta = 25°C) (Q1, Q2 共通)  
*BOTTOM VIEW  
0.65  
0.65  
記 号  
単位  
0.95  
2
1
3
ド レ イ ン ・ ソ ー ス 間 電 圧  
ゲ ー ト ・ ソ ー ス 間 電 圧  
V
V
20  
±12  
4  
V
V
DSS  
GSS  
DC  
ド レ イ ン 電 流  
パルス  
I
D
A
I
(1)  
16  
1
DP  
6
5
4
±
0.3 0.075  
M
0.05  
A
B
P
D
±
0.65 0.075  
0.65 0.075  
±
0.05  
M
A
B
(2)  
W
1.ソース 1  
2.ゲート 1  
3.ドレイン 2  
4. ソース 2  
5. ゲート 2  
t < 10s  
2
T
150  
°C  
°C  
ch  
6. ドレイン 1  
T
stg  
55 ~ 125  
UDFN6  
JEDEC  
:  
本製品の使用条件 (使用温度/電流/電圧等) が絶対最大定格以  
内での使用においても負荷 (高温および大電流/高電圧印加、  
多大な温度変化等) で連続して使用される場合は、信頼性が著  
しく低下するおそれがあります。  
JEITA  
東 芝  
2-2Y1A  
弊社半導体信頼性ハンドブック (取り扱い上のご注意とお願い  
およびディレーティングの考え方と方法) および個別信頼性情  
質量: 8.5 mg (標準)  
(信頼性試験レポート、推定故障率等) をご確認の上、適切な信頼性設計をお願いします。  
1:  
2:  
チャネル温度が150℃を超えることのない放熱条件でご使用ください。  
トータル定格  
FR4 基板実装時 (25.4 mm × 25.4 mm × 1.6 mm, Cu Pad: 645 mm2)  
現品表示(Top View)  
内部接続(Top View)  
ピン配置(Top View)  
6
5
4
S2  
D1 G2  
6
5
4
Q1  
D1  
D2  
PP5  
Q2  
G1  
2
3
S1  
D2  
1
2
3
1
極性判別マーキング  
極性判別マーキング(表面)  
*電極は裏面です  
1
2010-10-25  
SSM6P49NU  
電気的特性 (Ta = 25°C) (Q1, Q2 共通)  
記号  
測定条件  
最小  
標準  
最大  
単位  
V
V
I
I
= -1 mA, V  
= -1 mA, V  
= 0 V  
= 8 V  
-20  
-12  
(BR) DSS  
(BR) DSX  
D
D
GS  
GS  
ド レ イ ン ・ ソ ー ス 間 降 伏 電 圧  
ド レ イ ン し ゃ 断 電 流  
V
(4)  
I
V
V
V
V
= -20 V, V  
= 0 V  
-1  
μA  
μA  
V
DSS  
GSS  
DS  
GS  
DS  
DS  
GS  
I
= ±10 V, V  
= 0 V  
±1  
-1.2  
DS  
ゲ ー ト し き い 値 電 圧  
順 方 向 伝 達 ア ド ミ タ ン ス  
V
= -3 V, I = -1 mA  
-0.5  
4.7  
th  
D
Y ⏐  
= -3 V, I = -2.0 A  
(3)  
(3)  
(3)  
(3)  
(3)  
9.5  
36  
S
fs  
D
I
I
I
I
= -3.5 A, V  
= -10 V  
= -4.5 V  
= -2.5 V  
= -1.8 V  
45  
56  
76  
157  
D
D
D
D
GS  
GS  
GS  
GS  
= -3.0 A, V  
= -2.0 A, V  
= -0.5 A, V  
44  
ド レ イ ン ・ ソ ー ス 間 オ ン 抵 抗  
R
mΩ  
DS (ON)  
60  
83  
C
C
480  
90  
iss  
V
= -10 V, V  
= 0 V, f = 1 MHz  
GS  
pF  
nC  
DS  
oss  
C
rss  
76  
Q
g
6.74  
0.95  
1.50  
21  
V
V
= 10 V, I = 4.0A  
DD  
GS  
D
ゲ ー ト ・ ソ ー ス 間 電 荷 量  
ゲ ー ト ・ ド レ イ ン 間 電 荷 量  
Q
gs1  
= 4.5 V  
Q
gd  
ターンオン時間  
スイッチング時間  
t
on  
t
off  
V
V
= -10 V, I = -0.5 A,  
DD  
GS  
D
ns  
V
= 0 to -2.5 V, R = 4.7Ω  
ターンオフ時間  
54  
G
V
ドレイン・ソース間ダイオード電圧  
I
=4.0A, V  
= 0 V  
GS  
(3)  
0.87  
1.2  
DSF  
D
3:パルス測定  
4:ゲート・ソース間に正バイアスを印加した場合、V(BR)DSX モードとなり、ドレイン・ソース間の耐圧が低下しま  
すのでご注意ください。  
スイッチング特性測定条件  
0 V  
(a) 測定回路  
(b)入力波形  
(c)出力波形  
90%  
OUT  
0
IN  
10%  
2.5 V  
2.5V  
10 μs  
R
L
V
DS (ON)  
90%  
10%  
V
DD  
V
= -10 V  
DD  
V
DD  
R
= 4.7 Ω  
G
t
t
f
r
<
Duty 1%  
=
入力: t , t < 5 ns  
r
f
ソース接地  
t
t
off  
on  
Ta = 25°C  
使用上の注意  
V
th  
とは、ある低い動作電流値 (本製品においては I = -1mA) になるときのゲート・ソース間電圧で表されます。通常のスイッ  
D
チング動作の場合、V  
V より十分高い電圧、V  
V より低い電圧にする必要があります。  
GS (off) th  
GS (on)  
th  
(V  
V V  
)
ご使用する際には十分注意願います。  
GS (off)  
th  
GS (on)  
取り扱い上の注意  
この製品は構造上静電気に弱いため製品を取り扱う際、作業台・人・はんだごてなどに対し必ず静電対策を講じてください。  
熱抵抗 R および許容損失 P は、ご使用になる基板材料、面積、厚さ、Pad 面積など使用環境により異なります。ご使用  
th (ch-a)  
D
の際は放熱を十分考慮していただきますようお願いします。  
2
2010-10-25  
SSM6P49NU  
I
– V  
DS  
I
– V  
GS  
D
D
-10  
-8  
-6  
-4  
-2  
0
-100  
ソース接地  
= -3 V  
-10 V  
-4.5 V  
-2.5 V  
V
DS  
-10 パルス測定  
V
= -1.8 V  
GS  
-1  
Ta = 100 °C  
-0.1  
-0.01  
25 °C  
-25 °C  
ソース接地  
-0.001  
Ta = 25 °C  
パルス測定  
-0.0001  
0
-0.2  
-0.4  
-0.6  
-0.8  
-1  
-1.0  
0
-0.5  
-1.5  
-2.0  
-2.5  
ドレイン・ソース間電圧 V  
(V)  
ゲート・ソース間電圧  
V
(V)  
DS  
GS  
R
– I  
D
R
– V  
GS  
DS (ON)  
DS (ON)  
200  
150  
100  
200  
160  
ソース接地  
I
=-2.0A  
ソース接地  
D
Ta = 25°C  
パルステスト  
パルステスト  
-1.8 V  
120  
80  
-2.5 V  
25 °C  
-4.5 V  
Ta = 100 °C  
50  
0
40  
0
V
= -10 V  
GS  
-25 °C  
-10  
-10.0  
0
-2.0  
-4.0  
-6.0  
-8.0  
0
-2  
-4  
-6  
-8  
-12  
ゲート・ソース間電圧  
V
(V)  
GS  
ドレイン電流  
I
D
(A)  
R
Ta  
V
Ta  
th  
DS (ON)  
150  
-1.0  
ソース接地  
パルス測定  
ソース接地  
= -3 V  
V
DS  
= -1 mA  
I
D
-3.0 A / -4.5 V  
-2.0 A / -2.5 V  
100  
50  
0
-0.5 A / -1.8 V  
-0.5  
I
= -3.5 A / V  
= -10 V  
GS  
D
0
50  
0
50  
100  
150  
50  
0
50  
100  
150  
周囲温度 Ta (°C)  
周囲温度 Ta (°C)  
3
2010-10-25  
SSM6P49NU  
I
– V  
DS  
DR  
|Y | – I  
fs  
D
100  
10  
100  
ソース接地  
= 0 V  
ソース接地  
= -3 V  
Ta = 25°C  
パルス測定  
V
V
DS  
GS  
パルステスト  
D
I
G
DR  
10  
S
1
Ta = 100 °C  
1
25 °C  
0.1  
-25 °C  
0.1  
0.01  
0
0.5  
1.0  
1.5  
-0.01  
-0.1  
-1  
-10  
-100  
ドレイン・ソース間電圧  
V
(V)  
ドレイン電I  
(A)  
DS  
D
C – V  
DS  
t – I  
D
1000  
10000  
ソース接地  
t
off  
V
V
= -10 V  
= 0 ~ -2.5 V  
DD  
GS  
C
iss  
Ta = 25 °C  
300  
100  
t
f
R
G
= 4.7Ω  
1000  
100  
C
C
oss  
rss  
t
on  
30  
10  
10  
1
ソース接地  
Ta = 25 °C  
f = 1 MHz  
t
r
V
= 0 V  
GS  
-0.1  
-1  
-10  
-100  
-0.001  
-0.01  
-0.1  
-1  
-10  
ドレイン・ソース間電圧  
V
(V)  
DS  
ドレイン電流  
I
D
(A)  
ダイナミック入力特性  
-12  
-10  
ソース接地  
= -4 A  
Ta = 25°C  
I
D
-8  
-6  
-4  
-2  
V
= -10 V  
DD  
V
= -16 V  
DD  
-0  
12  
16  
20  
0
4
8
ゲート電荷量 Qg (nC)  
4
2010-10-25  
SSM6P49NU  
P
Ta  
D
t  
Rth  
w
1400  
1200  
1000  
800  
1000  
100  
a: FR4 基板実装時  
b
(25.4mm × 25.4mm × 1.6mm , Cu Pad : 645 mm2)  
b: FR4 基板実装時  
(25.4mm × 25.4mm × 1.6mm , Cu Pad : 2.13mm2  
)
a
a
600  
400  
10  
単発パルス  
a. FR4 基板実装時  
b
(25.4 mm × 25.4 mm × 1.6 mm, Cu Pad: 645 mm2)  
b. FR4 基板実装時  
200  
(25.4 mm × 25.4 mm × 1.6 mm, Cu Pad: 2.13 mm2)  
1
0.001  
0
1
10  
100  
1000  
-40 -20  
0
20 40 60 80 100 120 140 160  
0.01  
0.1  
パルス幅 tw (s)  
周囲温度 Ta (°C)  
5
2010-10-25  
SSM6P49NU  
製品取り扱い上のお願い  
本資料に掲載されているハードウェア、ソフトウェアおよびシステム(以下、本製品という)に関する情  
報等、本資料の掲載内容は、技術の進歩などにより予告なしに変更されることがあります。  
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得て本資料を転載複製する場合でも、記載内容に一切変更を加えたり、削除したりしないでください。  
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に、お客様の責任において、お客様のハードウェア・ソフトウェア・システムに必要な安全設計を行うこ  
とをお願いします計および使用に際しては製品に関する最新の情本資料様書ー  
タシート、アプリケーションノート、半導体信頼性ハンドブックなど)および本製品が使用される機器の  
取扱説明書作説明書などをご確認の上れに従ってください記資料などに記載の製品デー  
タ、図、表などに示す技術的な内容、プログラム、アルゴリズムその他応用回路例などの情報を使用する  
場合は、お客様の製品単独およびシステム全体で十分に評価し、お客様の責任において適用可否を判断し  
てください。  
本製品は、一般的電子機器(コンピュータ、パーソナル機器、事務機器、計測機器、産業用ロボット、家  
電機器などたは本資料に個別に記載されている用途に使用されることが意図されています製品は、  
特別に高い品質・信頼性が要求され、またはその故障や誤作動が生命・身体に危害を及ぼす恐れ、膨大な  
財産損害を引き起こす恐れ、もしくは社会に深刻な影響を及ぼす恐れのある機器(以下“特定用途”とい  
う)に使用されることは意図されていませんし、保証もされていません。特定用途には原子力関連機器、  
航空・宇宙機器、医療機器、車載・輸送機器、列車・船舶機器、交通信号機器、燃焼・爆発制御機器、各  
種安全関連機器、昇降機器、電力機器、金融関連機器などが含まれます。本資料に個別に記載されている  
場合を除き、本製品を特定用途に使用しないでください。  
本製品を分解、解析、リバースエンジニアリング、改造、改変、翻案、複製等しないでください。  
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本製品、または本資料に掲載されている技術情報を、大量破壊兵器の開発等の目的、軍事利用の目的、あ  
るいはその他軍事用途の目的で使用しないでください出に際しては外国為替及び外国貿易法、  
「米国輸出管理規則用ある輸出関連法令を遵守しれらの定めるところにより必要な手続を行っ  
てください。  
本製品RoHS 適合性など、詳細につきましては製品個別に必ず弊社営業窓口までお問合せください。本  
製品のご使用に際しては定の物質の含有・使用を規制すRoHS 指令等用ある環境関連法令を十分  
調査の上、かかる法令に適合するようご使用ください。お客様がかかる法令を遵守しないことにより生じ  
た損害に関して、当社は一切の責任を負いかねます。  
6
2010-10-25  

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SSC

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N-channel Enhancement-mode Power MOSFET
SSC

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ETC