| 型号等于： | SN74BCT8244A (1) |
| 型号起始： | SN74BCT8244* (12) SN74BCT8244A* (10) SN74BCT8244D* (2) |
| 所属品牌： | 不限 TI(12) |
| 功能分类： | 不限 测试(12) 总线驱动器(4) 总线收发器(4) 逻辑集成电路(4) 光电二极管(5) 信息通信管理(4) |
| 品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74BCT8244A
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备 |
测试 | ||
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SN74BCT8244ADW
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备 |
测试 | ||
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SN74BCT8244ADWE4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备 |
测试 | ||
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SN74BCT8244ADWG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8244ADWR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备 |
测试 | ||
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SN74BCT8244ADWRE4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备 |
测试 | ||
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SN74BCT8244ADWRG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8244ANT
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8244ANTE4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS 与八路缓冲器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8244ANTG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
扫描测试设备，带缓冲器IC24-PDIP | 测试 光电二极管 | |||
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SN74BCT8244DW
中文翻译 品牌: TI |
Scan Test Devices With Octal Buffers 24-SOIC 0 to 70 | 测试 | ||
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SN74BCT8244DWR
中文翻译 品牌: TI |
暂无描述 | 测试 |
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