| 型号等于： | SN74BCT8373ADW (1) |
| 型号起始： | SN74BCT8373AD* (6) SN74BCT8373ADW* (6) |
| 所属品牌： | 不限 TI(6) |
| 功能分类： | 不限 锁存器(5) 测试(5) 总线驱动器(2) 总线收发器(2) 逻辑集成电路(3) 光电二极管(3) 信息通信管理(3) PC(1) 驱动(1) 输出元件(1) |
| 品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74BCT8373ADW
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 PC | ||
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SN74BCT8373ADWE4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
锁存器 测试 | ||
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SN74BCT8373ADWG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
BCT/FBT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24, PLASTIC, SO-24 | 驱动 信息通信管理 光电二极管 输出元件 逻辑集成电路 | ||
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SN74BCT8373ADWR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8373ADWRE4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
锁存器 测试 | ||
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SN74BCT8373ADWRG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
扫描测试设备，带D型锁存器IC24-SOIC | 测试 锁存器 |
Total:61
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