| 型号等于： | SN74BCT8373DW (1) |
| 型号起始： | SN74BCT8373D* (2) SN74BCT8373DW* (2) |
| 所属品牌： | 不限 TI(2) |
| 功能分类： | 不限 锁存器(1) 测试(1) |
| 品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74BCT8373DW
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES | |||
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SN74BCT8373DWR
中文翻译 品牌: TI |
Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-SOIC 0 to 70 | 锁存器 测试 |
Total:21
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