| 型号等于： | SN74BCT8373NT (1) |
| 型号起始： | SN74BCT8373N* (1) SN74BCT8373NT* (1) |
| 所属品牌： | 不限 TI(1) |
| 功能分类： | 不限 锁存器(1) 测试(1) |
| 品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74BCT8373NT
中文翻译 品牌: TI |
Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-PDIP 0 to 70 | 锁存器 测试 |
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