型号等于：	SN74BCT8374ADW (2) SN74BCT8374ADWR (1)
型号起始：	SN74BCT8374ADW* (7) SN74BCT8374ADWE* (1) SN74BCT8374ADWG* (1) SN74BCT8374ADWR* (3)
所属品牌：	不限 TI(6)
功能分类：	不限触发器(6) 测试(6) 总线驱动器(2) 总线收发器(2) 逻辑集成电路(3) 光电二极管(3) 信息通信管理(3) 驱动(1)

SN74BCT8374ADW - 型号起始; 总记录数：6

品牌	图片	型号	描述	用途标签	PDF	供应商
		SN74BCT8374ADW 中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器测试
		SN74BCT8374ADWE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理驱动
		SN74BCT8374ADWG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器触发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理
		SN74BCT8374ADWR EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器测试
		SN74BCT8374ADWRE4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	触发器测试
		SN74BCT8374ADWRG4 EDA模型中文翻译品牌: TI	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 与八D型边沿触发触发器扫描测试设备	总线驱动器总线收发器触发器逻辑集成电路测试光电二极管信息通信管理

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