型号起始: | SN74LVTH186* (9) SN74LVTH1864* (7) SN74LVTH1865* (2) |
所属品牌: | 不限 TI(9) |
功能分类: | 不限 信息通信管理(5) 光电二极管(3) 输出元件(4) 逻辑集成电路(5) 测试(4) 总线驱动器(2) 总线收发器(2) 触发器(2) 装置(1) |
品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74LVTH18640DGGR
中文翻译 品牌: TI |
LVT SERIES, DUAL 9-BIT BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER, INVERTED OUTPUT, PDSO56 | 信息通信管理 光电二极管 输出元件 逻辑集成电路 | |||
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SN74LVTH18640DL
中文翻译 品牌: TI |
LVT SERIES, DUAL 9-BIT BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER, INVERTED OUTPUT, PDSO56 | 信息通信管理 光电二极管 输出元件 逻辑集成电路 | |||
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SN74LVTH18640DLR
中文翻译 品牌: TI |
LVT SERIES, DUAL 9-BIT BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER, INVERTED OUTPUT, PDSO56 | 信息通信管理 光电二极管 输出元件 逻辑集成电路 | |||
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SN74LVTH18646A
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位收发器和寄存器的器件 |
测试 | |||
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SN74LVTH18646A-EP
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SVAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS 3.3 -V 18位收发器和寄存器的ABT SVAN试验装置 |
装置 | |||
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SN74LVTH18646APM
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位收发器和寄存器的器件 |
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 信息通信管理 | ||
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SN74LVTH18646APMG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES | |||
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SN74LVTH18652A
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位收发器和寄存器的器件 |
测试 | |||
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SN74LVTH18652APM
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS 3.3 -V ABT扫描测试了18位收发器和寄存器的器件 |
总线驱动器 总线收发器 触发器 逻辑集成电路 测试 输出元件 信息通信管理 |
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