型号等于: | SN74BCT8373A (2) |
型号起始: | SN74BCT8373A* (10) SN74BCT8373AD* (6) SN74BCT8373AN* (2) |
所属品牌: | 不限 TI(9) |
功能分类: | 不限 锁存器(8) 测试(8) 总线驱动器(3) 总线收发器(3) 逻辑集成电路(5) 光电二极管(5) 信息通信管理(5) PC(1) 驱动(2) 输出元件(1) |
品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74BCT8373A
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
锁存器 测试 | ||
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SN74BCT8373ADW
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 PC | ||
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SN74BCT8373ADWE4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
锁存器 测试 | ||
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SN74BCT8373ADWG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
BCT/FBT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24, PLASTIC, SO-24 | 驱动 信息通信管理 光电二极管 输出元件 逻辑集成电路 | ||
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SN74BCT8373ADWR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8373ADWRE4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
锁存器 测试 | ||
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SN74BCT8373ADWRG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
扫描测试设备,带D型锁存器IC24-SOIC | 测试 锁存器 | ||
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SN74BCT8373ANT
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 驱动 | ||
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SN74BCT8373ANTE4
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 |
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