| 品牌 | 图片 | 型号 | 描述 | 用途标签 | 供应商 | |
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SN74BCT8373ADW
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 PC | ||
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SN74BCT8373ADWG4
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
BCT/FBT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24, PLASTIC, SO-24 | 驱动 信息通信管理 光电二极管 输出元件 逻辑集成电路 | ||
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SN74BCT8373ADWR
EDA模型
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8373ANTE4
中文翻译 品牌: TI |
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 八进制D类锁存器扫描测试设备 |
总线驱动器 总线收发器 锁存器 逻辑集成电路 测试 光电二极管 信息通信管理 | ||
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SN74BCT8373DWR
中文翻译 品牌: TI |
Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-SOIC 0 to 70 | 锁存器 测试 | |||
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SN74BCT8373NT
中文翻译 品牌: TI |
Scan Test Device With Octal D-Type Latches 24-PDIP 0 to 70 | 锁存器 测试 |
Total:61
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